[发明专利]一种磁镊和光镊测控系统

摘要

本发明公开了一种磁镊和光镊测控系统，属于显微技术领域。所述磁镊和光镊测控系统包括样品动作装置，样品动作装置与样品池连接，激光发射装置发射激光，激光发射装置发射的激光照射到样品池内，激光通过激光显微装置照射在微颗粒物或微球上，激光监测装置接收激光发射装置发射的激光，可见光成像装置拍摄样品池内的图像，中央控制器与激光监测装置连接，中央处理器与可见光成像装置连接，中央处理器与样品动作装置连接，中央处理器与磁镊装置连接，中央处理器与激光发射装置连接。本发明磁镊和光镊测控系统可以同时用光阱和磁镊操控两个不同的分子，自由度大，力程大，精确度高。

主权项

一种磁镊和光镊测控系统，用于控制实验溶液内的与磁球(49)表面连接的第一实验分子(47)及与微珠(50)表面结合的第二实验分子(48)，所述实验溶液包括微珠(50)的溶液、含有所述第二实验分子(48)的溶液及实验缓冲液；其特征在于，所述测控系统包括：样品池(11)，与所述磁球(49)表面连接的第一实验分子(47)及与所述微珠(50)表面结合的第二实验分子(48)设置在所述样品池(11)内；样品动作装置，所述样品动作装置与所述样品池(11)连接，所述样品动作装置带动所述样品池(11)动作，用于精确控制所述样品池(11)在三维方向的移动；激光发射装置，所述激光发射装置发射并调控激光；所述激光发射装置发射的激光照射到所述样品池(11)内，用于捕捉所述样品池(11)内的微珠(50)，所述激光在所述微珠(50)的折射下形成光阱，所述激光控制所述微珠(50)；激光显微装置，所述激光通过所述激光显微装置照射在所述微珠(50)上；激光监测装置，所述激光监测装置接收所述激光发射装置发射的激光，用于测量激光的精确位置及强度；可见光成像装置，所述激光显微装置配合所述可见光成像装置观察样品池(11)；所述可见光成像装置显微放大所述样品池(11)内的可见光图像，用于实时观察样品池(11)中的情况；磁镊装置，所述磁镊装置设置在所述样品池(11)处，用于控制所述样品池内的所述磁球(49)；中央处理器，所述中央处理器与所述激光监测装置连接，用于实时监测激光的位置及强度；所述中央处理器与所述可见光成像装置连接，用于接收所述可见光成像装置拍摄的图像；所述中央处理器与所述样品动作装置连接，用于控制所述样品动作装置动作；所述中央处理器与所述磁镊装置连接，控制所述磁镊装置动作；所述中央处理器与所述激光发射装置连接，控制所述激光发射装置动作。