[发明专利]一种基于光干涉法测玻璃体应力的测量方法

摘要

本发明公开了一种基于光干涉法测玻璃体应力的测量方法，具体按照以下步骤实施：步骤1.在压盖的轴心上方放置与水平面成45度夹角的反射镜，反射镜的上方放置读数显微镜，反射镜的水平入射方向放置钠光源；步骤2.在底盘上放置U型砝码；步骤3.利用钠光源发出钠黄光，钠黄光照到反射镜，光线经过45度反射后，垂直入射到平凸透镜中，经平凸透镜的下表面和平板玻璃的上表面反射的光线产生干涉条纹，再通过反射镜上方设置的读数显微镜得到干涉条纹的暗环对应的半径，然后通过受力分析和平板理论计算得到平板玻璃受到的应力。本发明一种基于光干涉法测玻璃体应力的测量方法原理简单，测量重复性好，测量系统易于操作，无损快速测量。

主权项

一种基于光干涉法测玻璃体应力的测量方法，其特征在于，采用的测量装置的结构为：包括外支撑架部、牛顿环仪部、砝码托盘部；外支撑架部包括圆形的上端盖(5)，上端盖(5)通过铝杆a(6)与圆形的下端盖(7)连接，上端盖(5)的中心设有与上端盖(5)同轴的圆形凹槽；牛顿环仪部包括底盖(2)，底盖(2)上表面设置有与底盖(2)同轴的环形凸台，底盖(2)的上方设置有压盖(1)，压盖(1)的下表面设置有与底盖(2)的凸台相匹配的凹槽，压盖(1)与底盖(2)之间设置有平凸透镜(3)和平板玻璃(10)，平凸透镜(3)嵌入压盖(1)的凹槽内，平板玻璃(10)嵌入底盖(2)的凸台上，且平板玻璃(10)与底盖(2)之间有间隙，底盖(2)嵌入上端盖(5)的凹槽内；砝码托盘部包括铝杆b(8)，铝杆b(8)的一端依次穿过上盖(5)和压盖(1)，铝杆b(8)通过螺母(4)与压盖(1)连接，铝杆b(8)的另一端连接有底盘(9)；所述上端盖(5)的半径和所述下端盖(7)的半径相等；所述压盖(1)的凹槽的半径不小于所述底盖(2)的凸台的外径；所述铝杆a(6)和所述铝杆b(8)均不少于3根；所述铝杆a(6)通过螺纹分别与所述上端盖(5)、所述下端盖(7)连接；所述铝杆b(8)的半径小于所述铝杆b(8)穿过所述压盖(1)开孔的半径；所述铝杆b(8)与所述底盘(9)通过螺栓连接；具体按照以下步骤实施：步骤1、在压盖(1)的轴心上方放置与水平面成45度夹角的反射镜(12)，反射镜(12)的上方放置读数显微镜(13)，反射镜(12)的水平入射方向放置钠光源(11)；步骤2、在底盘(9)上放置U型砝码；步骤3、利用钠光源(11)发出钠黄光，钠黄光照到反射镜(12)，光线经过45度反射后，垂直入射到平凸透镜(3)中，经平凸透镜(3)的下表面和平板玻璃(10)的上表面反射的光线产生干涉条纹，再通过反射镜(12)上方设置的读数显微镜(13)得到干涉条纹的暗环对应的半径，然后通过受力分析和平板理论计算得到平板玻璃(10)受到的应力。