[发明专利]一种圆饼状光弹颗粒摩擦系数测试新方法在审
| 申请号： | 201410608556.9 | 申请日： | 2014-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN104316458A | 公开（公告）日： | 2015-01-28 |
| 发明（设计）人： | 周翠英;李伟科 | 申请（专利权）人： | 中山大学 |
| 主分类号： | G01N19/02 | 分类号： | G01N19/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 510275 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种圆饼状光弹颗粒摩擦系数测试新方法，该方法由测试颗粒亮度与应力关系和测试光弹性颗粒间的摩擦系数两个主要步骤组成。其特征在于通过获取在压力作用下装置中三个光弹颗粒间刚开始运动时颗粒的光弹性图像，代入颗粒彩色梯度值和荷载拟合曲线多项式获取其应力状态。并通过应力分析获取光弹性颗粒间的摩擦系数。主要优点是其基于光学和受力分析原理，结构简单，易于实现；试验方法简便，便于推广应用；可以得出饼状光弹颗粒间的摩擦系数，为光弹颗粒模型试验分析提供基础数据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 圆饼 状光弹 颗粒 摩擦系数 测试 新方法 | ||
【主权项】：
一种圆饼状光弹颗粒摩擦系数测试新方法，其特征在于由测试颗粒亮度与应力关系和测试光弹性颗粒间的摩擦系数两个主要步骤组成。其特征在于通过获取在压力作用下装置中三个光弹颗粒间刚开始运动时颗粒的光弹性图像，计算图像彩色梯度值，代入颗粒彩色梯度值和荷载拟合曲线多项式获取其应力状态，并通过应力分析获取光弹性颗粒间的摩擦系数。
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