[发明专利]测光方法及装置有效
| 申请号： | 201410589977.1 | 申请日： | 2014-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN104320654A | 公开（公告）日： | 2015-01-28 |
| 发明（设计）人： | 秦秋平;张涛;王百超 | 申请（专利权）人： | 小米科技有限责任公司 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00;H04N5/232;H04N5/235 |
| 代理公司： | 北京尚伦律师事务所 11477 | 代理人： | 代治国 |
| 地址： | 100085 北京市海淀区清*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开是关于一种测光方法及装置，用于更简单准确地获取测光区域。所述方法包括：获取用户在图像的目标区域内的划屏线，所述划屏线包含多个划屏点；根据所述图像的边界点及所述划屏点，将所述图像分割为所述目标区域和背景区域；将所述目标区域作为测光区进行测光。通过划屏方式获得图像的目标区域，并将目标区域作为测光区进行测光，使得测光区的确定更加方便简单，同时能够准确地将用户感兴趣的区域从图像中分割出来，使得测光区能够覆盖更多的图像区域，进而使该区域获得更好的曝光效果。 | ||
| 搜索关键词： | 测光 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种测光方法，其特征在于，包括：获取用户在图像的目标区域内的划屏线，所述划屏线包含多个划屏点；根据所述图像的边界点及所述划屏点，将所述图像分割为所述目标区域和背景区域；将所述目标区域作为测光区进行测光。
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