[发明专利]一种金相试样制备仪

摘要

本发明公开了一种金相试样制备仪，包括机架、金相试样夹持机构、五自由度驱动机构、打磨机构、抛光机构和试样腐蚀结构块，通过五自由度驱动机构配合金相试样夹持机构，可以精确控制金相试样在制备过程中的运动轨迹，并辅助打磨机构、抛光机构和试样腐蚀结构块完成金相试样的高质量制备，试样的打磨、抛光和腐蚀过程可实现自动化控制，省去了大量的人力和时间，同时避免了因技术人员的失误或者经验不足造成的试样制备缺陷。此外，本发明还具有占地空间小、设备利用率高、噪声小、无污染、金相砂纸更换方便，抛光液可实现循环利用、结构紧凑、制作成本较低、安装维护方便等优点。

主权项

一种金相试样制备仪，包括机架、金相试样夹持机构、五自由度驱动机构、打磨机构、抛光机构和试样腐蚀结构块；其特征在于，机架，用于为金相试样夹持机构、五自由度驱动机构、打磨机构、抛光机构和试样腐蚀结构块提供支撑、导向和定位功能；金相试样夹持机构，在打磨、抛光和腐蚀过程中用于完成对试样的夹持动作；打磨机构，用于完成对试样的自动化打磨过程；抛光机构，用于完成对试样的自动化抛光过程；试样腐蚀结构块，用于完成对试样的腐蚀过程；五自由度驱动机构，与金相试样夹持机构连接，用于控制金相试样夹持机构在机架内部的运动轨迹，并配合打磨机构、抛光机构和试样腐蚀结构块完成打磨、抛光和腐蚀过程；所述机架上安装有试样定位块，用于放置试样并作为试样在制备过程中的原点位置；在试样定位块上设有一个试样放置孔和至少一个试管放置孔；所述金相试样夹持机构，包括一个矩形块和两个电磁式V形块；在矩形块上设有一个试样定位孔和一个V形块放置孔，试样定位孔与V形块放置孔垂直连通且分别贯穿所述矩形块；电磁式V形块位于V形块放置孔内部，且当两块V形块相互吸合时，对位于试样定位孔内部的试样形成夹紧。