[发明专利]一种绝缘子污秽检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201410564068.2 申请日: 2014-10-21
公开(公告)号: CN104280072A 公开(公告)日: 2015-01-14
发明(设计)人: 高强;刘丽沙;余萍 申请(专利权)人: 华北电力大学(保定)
主分类号: G01D21/02 分类号: G01D21/02;G01N33/00;G01N5/04
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 朱琨
地址: 071003 河*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明属于电力绝缘设备检测技术领域,尤其涉及一种绝缘子污秽检测方法及装置,方法包括:建立天线温度、环境温度、大气湿度、等值盐密度、等值灰密度之间的关系式;检测天线温度、环境温度、大气湿度,并带入关系式中;等值盐密度和等值灰密度进行以迭代步长为η1的双循环增长,计算天线温度与公式迭代输出的天线温度的最小均方差;再以迭代步长为η1/10进行精确双循环迭代,当误差达到最小时,就得到了最终结果的等值盐密度和等值灰密度。装置包括:微波辐射计、温度传感器、湿度传感器、中央处理器、存储器、显示屏、操作按键、电池、信号线、电源线。本发明能在线非接触测量绝缘子污秽程度,具有精度高、检测快速、使用便捷等优点。
搜索关键词: 一种 绝缘子 污秽 检测 方法 装置
【主权项】:
一种绝缘子污秽检测方法,其特征在于,包括:步骤1、建立天线温度TA、环境温度Te、大气湿度RH、等值盐密度ESDD和等值灰密度NSDD之间的关系式;步骤2、通过实际测量得到N组不同环境温度Te、大气湿度RH、等值盐密度ESDD和等值灰密度NSDD的环境条件下的数据组成矩阵A,并将在矩阵A对应不同测量条件下测量得到的天线温度矩阵TA作为优化时的训练样本,来确定步骤1中建立的关系式的最优参数值;步骤3、用微波辐射计测量得到绝缘子污秽的天线温度Ta,用温度计测得环境温度Te0,用湿度计测量大气湿度RH0,将Te0和RH0测量值组成一个四维向量,即初始值x0=[Te0,RH0,0,0];步骤4、把初始值x0=[Te0,RH0,0,0]代入关系式,计算实测天线温度Ta与公式迭代输出的天线温度TA的最小均方差为δ=(TA‑Ta)2,用以衡量计算迭代是否能结束;步骤5、初步迭代:取迭代步长为η1,ESDD的取值从其取值范围的下限开始,NSDD的取值从其取值范围的下限开始按步长增加,最大不超过取值范围的上限,NSDD每增加一步步长计算一次误差δ=(TA‑Ta)2,当NSDD的取值为其取值范围的上限时,ESDD增加一步步长,NSDD的取值重新从其取值范围的下限开始按步长增加,直到ESDD的取值为取值范围的上限;即ESDD和NSDD进行以迭代步长为η1的双循环增长;当误差δ=(TA‑Ta)2达到最小时,初步迭代结束,得出初步的等值盐密度ESDD1和等值灰密度值NSDD1;步骤6、精确迭代:再取迭代步长为η2=η1/10进行精确计算,迭代次数为10次;用初步迭代的结果ESDD1和NSDD1进行按步长为η2进行增减,寻找更优的等值盐密度和等值灰密度,每迭代一次计算误差δ=(TA‑Ta)2,当误差达到最小时,就得到了最终结果的等值盐密度ESDD和等值灰密度NSDD
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