[发明专利]一种基于空间稀疏度和SIFT特征提取的快速图像配准实现方法有效

专利信息
申请号: 201410531222.6 申请日: 2014-10-10
公开(公告)号: CN104318548A 公开(公告)日: 2015-01-28
发明(设计)人: 钟桦;焦李成;王海明;王爽;侯彪;田小林;熊涛;刘红英 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T5/40
代理公司: 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 代理人: 张恒阳
地址: 710071 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于空间稀疏度和SIFT特征提取的快速图像配准实现方法,主要克服经典SIFT特征提取算法中,经常会提取到平滑区域和纹理区域不稳定的特征点而造成特征误匹配的问题。其步骤包括:1)分别提取参考图和待匹配图稀疏区域。2)对参考图和待匹配图的稀疏区域提取SIFT特征点。3)对参考图和待匹配图上提取到的SIFT特征点集进行粗匹配。4)用随机一致性估计算法来滤除粗匹配结果中的误匹配。5)利用参考图和待匹配图最终的匹配点对,通过仿射变换得到仿射变换参数来实现对两幅SAR图像配准。本发明能在保证经典SIFT特征配准算法精度前提下提高配准效率,可用于SAR图像的配准处理。
搜索关键词: 一种 基于 空间 稀疏 sift 特征 提取 快速 图像 实现 方法
【主权项】:
一种基于空间稀疏度和SIFT特征提取的快速图像配准实现方法,其特征在于:包括如下步骤:(1)输入在不同时间获取的同一地区的两幅多时相SAR图像,分别记作参考图和待匹配图,对参考图和待匹配图的每个像素点计算稀疏度,挑选稀疏度高的像素点所在的区域作为稀疏区域,分别记作MaskR和MaskS;(2)分别对参考图稀疏区域MaskR和待匹配图稀疏区域MaskS提取SIFT特征点,得到参考图和待匹配图SIFT特征点集分别记为{Rm}、{Sn};(3)对参考图和待匹配图上提取到的SIFT特征点集{Rm}和{Sn}进行特征匹配,得到粗匹配特征对{(pq)i},参考图和待匹配图中的粗匹配点集分别为{pi}和{qi},i表示匹配对的索引号;(4)利用随机一致性估计算法对粗匹配结果去除误匹配对,去除误匹配对后参考图和待匹配图保留下来的特征点对集合记为{(PQ)i},此时参考图和待匹配图中各自保留下来特征点分别为{Pi}、{Qi},其中i表示匹配对的索引号;(5)利用参考图和待匹配图的匹配点集{Pi}和{Qi},通过仿射变换得到仿射变换参数,最后根据仿射变换参数对两幅图像配准。
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