[发明专利]双曲面弯晶、组合式双曲面弯晶及单波长色散 X 射线荧光光谱仪在审

专利信息
申请号: 201410528186.8 申请日: 2014-10-09
公开(公告)号: CN104264228A 公开(公告)日: 2015-01-07
发明(设计)人: 滕云;李伯伦;施小灵 申请(专利权)人: 北京安科慧生科技有限公司
主分类号: C30B29/64 分类号: C30B29/64;G01N23/223
代理公司: 北京东方汇众知识产权代理事务所(普通合伙) 11296 代理人: 张淑贤;李勤
地址: 100024 北京市朝*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种双曲面弯晶、组合式双曲面弯晶及单波长色散X射线荧光光谱仪,所述的双曲面弯晶包括在一个平面(X-Y平面)内有罗兰圆半径为R的曲率,在另一个平面(Y-Z平面)内有半径为r的曲率的凹面,在X-Y平面内的曲线是罗兰圆,在Y-Z平面内的曲线是:以光源点和聚焦点连线为轴,以晶体中心到光源点和聚焦点连线的垂线为半径r的旋转曲面。X光光管的光斑直径为150μm经全聚焦双曲面弯曲晶体衍射出来的相同波长的X光都聚焦成一个小于350μm的点,所以所述双曲面弯晶有高集光效率,大大提高了微量元素的检出限。
搜索关键词: 双曲面 组合式 波长 色散 射线 荧光 光谱仪
【主权项】:
一种双曲面弯晶,其特征在于,所述双曲面弯晶的凹面以圆弧CD绕轴AB旋转而得,所述C点和D点之间的连线平行于所述轴AB,所述圆弧CD的半径为30‑800mm,所述轴AB与直线CD之间的距离为10‑800mm。
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