[发明专利]一种被测物的测量基准面定位设备与装置及其方法

摘要

本发明公开一种被测物的测量基准面定位设备与装置及其方法。先转动转盘将被测物转到带有影像测量仪的工站下方，获取被测物的影像，处理器在影像中对被测物最外沿的边缘提取两条相交的边缘线段，作为第一、第二基准边，对应得到第一、第二基准边坐标。后转动转盘将被测物转到带有两个激光测头的工站下方，按照预定的扫描路线完整的扫描整个被测物的表面包括其边缘部分，并利用影像与激光在空间坐标上相对的关系，得到以若干激光点构成的点云作为激光扫描的数据，处理器根据激光扫描的数据拟合出被测物的分别具有第一、第二基准边的第一、第二基准面参数，并将第一、第二基准边坐标对应结合第一、第二基准面参数得出被测物的准确位置。

主权项

一种被测物的测量基准面定位设备，其特征在于：其包括：一个测量平台，该测量平台包括载物台、转盘，该载物台上设有用于承载被测物的若干工位，每个工位的正上方固定有工站，在其中一个工站上固定有一个影像测量仪，在其中另一个工站上固定有成预定夹角的两个激光测头且该两个激光测头以平行于该影像测量仪的轴线对称设置，该转盘用于转动载物台或转动这些工站使工位和工站能相对变换；一个处理器，该处理器与该影像测量仪、该两个激光测头均电连接，该处理器使用陶瓷量块标定该影像测量仪和该两个激光测头之间所建立的位置关系，即影像与激光在空间坐标上相对的关系；其中，当被测物承载在其中一个工位上时，转动该转盘将该被测物转到带有该影像测量仪的工站下方，该影像测量仪获取该被测物的影像，该处理器接收该影像，并在该影像中对被测物最外沿的边缘提取两条相交的边缘线段，作为第一基准边和第二基准边，对应得到第一基准边坐标和第二基准边坐标；转动该转盘将该被测物转到带有该两个激光测头的工站下方，该两个激光测头按照预定的扫描路线，完整的扫描整个被测物的表面包括其边缘部分，并利用影像与激光在空间坐标上相对的关系，得到以若干激光点构成的点云作为激光扫描的数据，该处理器根据该激光扫描的数据拟合出该被测物的具有该第一基准边的第一基准面参数和具有该第二基准边的第二基准面参数，并将该第一基准边坐标和该第二基准边坐标对应结合该第一基准面参数和该第二基准面参数得出该被测物的准确位置。