[发明专利]一种测量单微粒中铀同位素比的方法有效
| 申请号： | 201410520285.1 | 申请日： | 2014-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN104236978B | 公开（公告）日： | 2017-03-22 |
| 发明（设计）人： | 王凡;张燕;赵永刚;李力力;李金英;鹿捷 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N27/64 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102413 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于核技术监控技术领域，公开了一种测量单微粒中铀同位素比的方法。该方法是首先由扫描电子显微镜寻找含铀微粒并由微操系统将其转移至表面粘有标记金属网的导电胶上，用以定位和固定，然后再利用激光烧蚀‑电感耦合等离子体质谱分析仪器对同位素比进行分析。该法具有前处理方法简单快捷、分析流程简化且分析精密度达到1％的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 微粒 同位素 方法 | ||
【主权项】：
一种测量单微粒中铀同位素比的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：(1)将含有铀微粒的擦拭样品经超声振荡回收后，转移至载体片上；(2)将LA‑ICP‑MS分析仪器所用的样品台的表面粘贴一层双面导电胶，然后在该双面导电胶的上表面粘贴带有标记的导电金属网；采用扫描电子显微镜寻找步骤(1)中所述的载体片上的铀微粒，并通过微操作系统控制钨针将单个铀微粒转移至所述导电金属网任一网格内的双面导电胶上；(3)LA‑ICP‑MS分析仪器的光学显微成像系统在步骤(2)所确定的网格范围内对微粒重新定位，并对铀微粒进行同位素比测量；步骤(2)中所述双面导电胶的材质为碳胶；步骤(3)中所述对铀微粒进行同位素比测量，所用LA‑ICP‑MS分析仪器的参数为：激光束斑为8～14μm，激光频率为4～12赫兹，激光功率密度为1.5×108～2.0×108W/cm2，射频功率900～1100W。
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