[发明专利]一种小电流高压硅堆清洗工艺有效
申请号: | 201410519686.5 | 申请日: | 2014-09-30 |
公开(公告)号: | CN104241098B | 公开(公告)日: | 2017-02-01 |
发明(设计)人: | 黄丽凤;王志敏;张龙 | 申请(专利权)人: | 如皋市大昌电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;B08B3/08 |
代理公司: | 北京一格知识产权代理事务所(普通合伙)11316 | 代理人: | 滑春生 |
地址: | 226500 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种小电流高压硅堆清洗工艺,步骤为首先,利用机械臂将高压硅堆放入混酸溶液中清洗,将经过混酸清洗后的高压硅堆放入溢水中清洗;然后,再利用机械臂将高压硅堆放入稀HNO溶液中进行清洗,将经过稀HNO清洗后的高压硅堆放入溢水中清洗;最后,利用机械臂将高压硅堆放入稀HF中清洗,将经过稀HF清洗后的高压硅堆放入溢水中清洗;同时,在清洗的过程中,机械臂自动摆动,最后,将高压硅堆放入甩干机中进行脱水处理,脱水的时间t4=180s,完成清洗。本发明的优点在于利用本工艺对焊接后的小电流高压硅堆进行清沟,可以很好的去除附着在高压硅堆表面的焊油、水汽等杂质,相应的增加其耐久性及可靠性。 | ||
搜索关键词: | 一种 电流 高压 清洗 工艺 | ||
【主权项】:
一种小电流高压硅堆清洗工艺,其特征在于:步骤为:a)首先,利用机械臂将高压硅堆放入混酸溶液中清洗,清洗的时间t1=222s±5s,混酸溶液的温度 T=10℃±2℃,同时,在清洗的过程中,机械臂自动摆动,以方便高压硅堆能够充分与混酸溶液接触;b)将经过混酸清洗后的高压硅堆放入溢水中清洗,同时,在清洗的过程中,机械臂自动摆动,以除去高压硅堆表面的混酸溶液;c)然后,再利用机械臂将高压硅堆放入稀HNO溶液中进行清洗,清洗的时间t2=22s±1s,同时,在清洗的过程中,机械臂自动摆动,以方便高压硅堆能够充分与稀HNO溶液接触;d)将经过稀HNO3清洗后的高压硅堆放入溢水中清洗,同时,在清洗的过程中,机械臂自动摆动,以除去高压硅堆表面的稀HNO溶液;e)最后,利用机械臂将高压硅堆放入稀HF中清洗,清洗的时间t3=22s±1s,同时,在清洗的过程中,机械臂自动摆动,以方便高压硅堆能够充分与稀HF溶液接触;f)将经过稀HF清洗后的高压硅堆放入溢水中清洗,同时,在清洗的过程中,机械臂自动摆动,以除去高压硅堆表面的稀HF溶液;g)最后,将高压硅堆放入甩干机中进行脱水处理,脱水的时间t4=180s,完成清洗。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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