[发明专利]X射线辐射的检测

摘要

本发明涉及一种X射线检测器(100)，具有检测单元(10)，其产生对于击中检测单元(10)的X射线辐射(XR)的检测信号，和信号分析模块(30)，其基于检测信号和预定的信号分析参数(P₁，P₂)确定一组计数率(R₁，R₂，R₁'，R₂')，切换控制单元(40)，用于在第一(P₁)和第二信号分析参数(P₂)之间的切换，从而基于第一信号分析参数产生对于第一时间段(Δt₁)的第一组计数率(R₁，R₁')和基于第二信号分析参数产生对于第二时间段(Δt₂)的第二组计数率(R₂，R₂')。本发明还涉及一种具有这样的检测器的X射线成像系统以及一种用于使用这样的检测器确定对于X射线辐射的计数率的方法，和一种用于使用这样的检测器校准信号分析参数的方法。

主权项

一种X射线检测器(100)，具有‑检测单元(10)，其产生对于击中检测单元(10)的X射线辐射(XR)的检测信号，和‑信号分析模块(30)，其基于所述检测信号和对于X射线辐射的预定的信号分析参数(P₁，P₂)确定对于击中检测单元的X射线辐射的一组计数率(R₁，R₂，R₁'，R₂')，‑切换控制单元(40)，用于在至少第一信号分析参数(P₁)和第二信号分析参数(P₂)之间的切换，从而在预先给出的、击中检测模块的X射线辐射(XR)的情况下：基于第一信号分析参数(P₁)产生对于第一时间段(Δt₁)的第一组计数率(R₁，R₁')并且基于与所述第一信号分析参数(P₁)不同的第二信号分析参数(P₂)产生对于第二时间段(Δt₂)的第二组计数率(R₂，R₂')，其中，所述信号分析参数从‑能量门限值，‑信号形状参数，‑检测信号组合参数的组中选择。