[发明专利]图案化的方法与半导体结构有效
申请号: | 201410471474.4 | 申请日: | 2014-09-16 |
公开(公告)号: | CN105489476B | 公开(公告)日: | 2018-07-13 |
发明(设计)人: | 杨金成 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027;G03F1/76 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种图案化的方法,该方法包括:提供具有材料层的基底;在材料层上形成图案化的硬掩模层,其中具有多个第一孔洞;接着,形成掩模层,其中包括多条线图案掩模,线图案掩模沿着一方向延伸,且将每一第一孔洞分隔成第二孔洞与第三孔洞;以图案化的硬掩模层以及掩模层做为掩模,对材料层进行图案化,以形成具有多个第四孔洞与第五孔洞的图案化的材料层。本发明还提供一种半导体结构。 | ||
搜索关键词: | 孔洞 图案化 材料层 掩模 半导体结构 硬掩模层 线图案 掩模层 方向延伸 基底 分隔 | ||
【主权项】:
1.一种图案化的方法,包括:在一基底上依序形成一材料层、一第一硬掩模层、一第二硬掩模层以及一第一掩模层;以该第一掩模层做为刻蚀掩模,刻蚀该第二硬掩模层,以形成一图案化的第二硬掩模层,该图案化的第二硬掩模层中具有多个第一孔洞,这些第一孔洞呈M×N阵列分布,M≥2,N≥2,在沿着一第一方向的关键尺寸(CD)大于沿着一第二方向的CD;移除该第一掩模层;形成一第二掩模层,该第二掩模层包括多条线图案掩模,这些线图案掩模沿着该第二方向延伸,且将每一第一孔洞分隔成一第二孔洞与一第三孔洞;以该图案化的第二硬掩模层以及该第二掩模层做为刻蚀掩模,刻蚀这些第二孔洞与这些第三孔洞裸露的该第一硬掩模层与该材料层,以形成一图案化的第一硬掩模层与一图案化的材料层;以及移除该图案化的第一硬掩模层、该图案化的第二硬掩模层以及该第二掩模层,裸露出该图案化的材料层,该图案化的材料层具有多个第四孔洞与多个第五孔洞,调整这些线图案掩模在该第一方向上的CD,以调整所形成的这些第四孔洞与这些第五孔洞沿着该第一方向的CD。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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