[发明专利]光学设备和光学设备的控制方法有效
申请号: | 201410454326.1 | 申请日: | 2014-09-09 |
公开(公告)号: | CN104423009B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
发明(设计)人: | 大川聪 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社 |
主分类号: | G02B7/02 | 分类号: | G02B7/02;G02B7/28;G03B13/34;H04N5/232 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 李辉,黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供光学设备和光学设备的控制方法,能够高精度地对透镜组进行位置控制。光学设备具有CPU(41),其在光轴方向上驱动透镜组;LDPI(69),其检测透镜组的光轴方向的绝对位置;GMR传感器(87),其检测透镜组的光轴方向的相对位置;以及存储部(37),其存储相当于与透镜组的规定位置对应的GMR传感器(87)的输出的第1数据以及相当于使透镜组停止的目标位置的第2数据,CPU(41)驱动透镜组,在LDPI(69)的输出产生规定变化的时刻,将GMR传感器(87)的输出作为第3数据存储在存储部(37)中,并且将第2数据作为目标位置执行透镜组的停止动作而使其停止,根据存储部(37)中存储的第1数据、第2数据和第3数据对透镜组停止的状态下的GMR传感器(87)的输出进行校正。 | ||
搜索关键词: | 光学 设备 控制 方法 | ||
【主权项】:
一种光学设备,该光学设备具有能够在光轴方向上移动的透镜组,所述光学设备具有控制部,其在光轴方向上驱动上述透镜组,其特征在于,所述光学设备还具有:第1位置检测部,其检测上述透镜组的光轴方向的绝对位置;第2位置检测部,其检测上述透镜组的光轴方向的相对位置;以及存储部,其存储第1数据和第2数据,该第1数据相当于与上述透镜组的规定位置对应的上述第2位置检测部的输出,该第2数据相当于使上述透镜组停止的目标位置,上述控制部驱动上述透镜组,在与上述规定位置对应的上述第1位置检测部的输出产生规定变化的时刻,取得上述第2位置检测部的输出作为第3数据,根据上述第1数据和上述第3数据计算停止目标位置,执行上述透镜组的停止动作而使其停止,根据上述存储部中存储的上述第2数据和上述停止目标位置对上述透镜组停止的状态下的上述第2位置检测部的输出进行校正。
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