[发明专利]光刻胶剥离方法在审
申请号: | 201410440251.1 | 申请日: | 2014-08-28 |
公开(公告)号: | CN105321807A | 公开(公告)日: | 2016-02-10 |
发明(设计)人: | 施政宏;杨国华;侯翔彬 | 申请(专利权)人: | 颀邦科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027;H01L21/48 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 中国台湾新竹科学*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种光刻胶剥离方法,包含:提供半导体基板、浸泡步骤及剥离步骤,该半导体基板具有基板、焊垫、保护层、凸块下金属层、图案化光刻胶层及凸块,该图案化光刻胶层覆盖该凸块下金属层及该凸块的侧面,且该图案化光刻胶层及该凸块的该侧面之间形成有第一接合界面,该图案化光刻胶层及该凸块下金属层之间形成有第二接合界面,在浸泡步骤中,由于该图案化光刻胶接触化学液,可使得该第一接合界面的接合强度减弱,在剥离步骤中以具有适当冲击力的流体冲刷该半导体基板,可使该图案化光刻胶层由该基板上剥离,可大幅减少基板浸泡化学液的时间,并减少化学液的用量,且由于浸泡化学液的时间较短,并不会影响该半导体基板的结构,可大幅提升生产的良率。 | ||
搜索关键词: | 光刻 剥离 方法 | ||
【主权项】:
一种光刻胶剥离方法,其包含:半导体基板,该半导体基板具有基板、焊垫、保护层、凸块下金属层、图案化光刻胶层及凸块,该焊垫位于该基板的表面,该保护层覆盖该基板及该焊垫,且该保护层具有开口,该开口显露该焊垫,该凸块下金属层覆盖该保护层,该凸块设置于该凸块下金属层上,该凸块具有侧面,该图案化光刻胶层覆盖该凸块下金属层及该凸块的该侧面,且该图案化光刻胶层及该凸块的该侧面之间形成有第一接合界面,该图案化光刻胶层及该凸块下金属层之间形成有第二接合界面,其中该第一接合界面具有第一接合强度,该第二接合界面具有第二接合强度;其特征在于提供该半导体基板进行以下步骤:一、浸泡步骤,将该半导体基板浸泡至化学液中,使该化学液接触该图案化光刻胶层,且该化学液渗入该第一接合界面中,使该第一接合界面的该第一接合强度转变为第三接合强度,该第二接合界面的该第二接合强度转变为第四接合强度,其中该第三接合强度小于该第一接合强度;以及二、剥离步骤,以流体冲刷该半导体基板,该流体具有冲击力,该冲击力大于该第三接合强度及该第四接合强度,以使该图案化光刻胶层由该基板上剥离,以显露该凸块的该侧面及该凸块下金属层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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