[发明专利]光刻胶剥离方法在审

专利信息
申请号: 201410440251.1 申请日: 2014-08-28
公开(公告)号: CN105321807A 公开(公告)日: 2016-02-10
发明(设计)人: 施政宏;杨国华;侯翔彬 申请(专利权)人: 颀邦科技股份有限公司
主分类号: H01L21/027 分类号: H01L21/027;H01L21/48
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 中国台湾新竹科学*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种光刻胶剥离方法,包含:提供半导体基板、浸泡步骤及剥离步骤,该半导体基板具有基板、焊垫、保护层、凸块下金属层、图案化光刻胶层及凸块,该图案化光刻胶层覆盖该凸块下金属层及该凸块的侧面,且该图案化光刻胶层及该凸块的该侧面之间形成有第一接合界面,该图案化光刻胶层及该凸块下金属层之间形成有第二接合界面,在浸泡步骤中,由于该图案化光刻胶接触化学液,可使得该第一接合界面的接合强度减弱,在剥离步骤中以具有适当冲击力的流体冲刷该半导体基板,可使该图案化光刻胶层由该基板上剥离,可大幅减少基板浸泡化学液的时间,并减少化学液的用量,且由于浸泡化学液的时间较短,并不会影响该半导体基板的结构,可大幅提升生产的良率。
搜索关键词: 光刻 剥离 方法
【主权项】:
一种光刻胶剥离方法,其包含:半导体基板,该半导体基板具有基板、焊垫、保护层、凸块下金属层、图案化光刻胶层及凸块,该焊垫位于该基板的表面,该保护层覆盖该基板及该焊垫,且该保护层具有开口,该开口显露该焊垫,该凸块下金属层覆盖该保护层,该凸块设置于该凸块下金属层上,该凸块具有侧面,该图案化光刻胶层覆盖该凸块下金属层及该凸块的该侧面,且该图案化光刻胶层及该凸块的该侧面之间形成有第一接合界面,该图案化光刻胶层及该凸块下金属层之间形成有第二接合界面,其中该第一接合界面具有第一接合强度,该第二接合界面具有第二接合强度;其特征在于提供该半导体基板进行以下步骤:一、浸泡步骤,将该半导体基板浸泡至化学液中,使该化学液接触该图案化光刻胶层,且该化学液渗入该第一接合界面中,使该第一接合界面的该第一接合强度转变为第三接合强度,该第二接合界面的该第二接合强度转变为第四接合强度,其中该第三接合强度小于该第一接合强度;以及二、剥离步骤,以流体冲刷该半导体基板,该流体具有冲击力,该冲击力大于该第三接合强度及该第四接合强度,以使该图案化光刻胶层由该基板上剥离,以显露该凸块的该侧面及该凸块下金属层。
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