[发明专利]一种测量碳纳米管手性的方法及装置有效
| 申请号： | 201410434385.2 | 申请日： | 2014-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN105445230B | 公开（公告）日： | 2020-04-28 |
| 发明（设计）人： | 武文贇;岳菁颖;林晓阳;赵清宇;姜开利;范守善 | 申请（专利权）人： | 清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/49 | 分类号： | G01N21/49 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区清*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种原位测量碳纳米管手性的方法，包括以下步骤：S1提供待测碳纳米管；S2将所述待测碳纳米管置于耦合液中；S3提供一束具有连续光谱的白色入射光，所述待测碳纳米管在该入射光的照射下发生共振瑞利散射；S4利用物镜为水镜的光学显微镜观测该待测碳纳米管，获取该待测碳纳米管的位置信息，观测时该水镜浸没于所述耦合液中；S5获取所述待测碳纳米管的共振瑞利散射光谱，根据该共振瑞利散射光谱信息获得待测碳纳米管的手性指数。本发明还涉及一种利用该方法测量碳纳米管手性的装置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 纳米 手性 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种测量碳纳米管手性的方法，包括以下步骤：S1 提供待测碳纳米管；S2 将所述待测碳纳米管置于耦合液中；S3 提供一束具有连续光谱的白色入射光，所述待测碳纳米管在该入射光的照射下发生共振瑞利散射；S4 利用物镜为水镜的光学显微镜观测该待测碳纳米管，获取该待测碳纳米管的位置信息，观测时该水镜浸没于所述耦合液中；S5获取所述待测碳纳米管的共振瑞利散射光谱，根据该共振瑞利散射光谱信息获得待测碳纳米管的手性指数。
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