[发明专利]IGBT背面金属化的改善方法有效
| 申请号: | 201410405805.4 | 申请日: | 2014-08-18 |
| 公开(公告)号: | CN104576347B | 公开(公告)日: | 2017-08-08 |
| 发明(设计)人: | 马彪 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28;H01L21/02 |
| 代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司31211 | 代理人: | 郭四华 |
| 地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明公开了一种IGBT背面金属化的改善方法,包括步骤在硅衬底的正面完成正面图形工艺;完成背面减薄工艺、背面注入工艺和激光退火工艺;对硅衬底背面进行DHF清洗;形成由Al、Ti、Ni和Ag叠加形成的背面金属层;进行烤箱烘干工艺。本发明能形成良好的背面接触,同时能避免产生背面金属的脱落,提高产品的性能和良率。 | ||
| 搜索关键词: | igbt 背面 金属化 改善 方法 | ||
【主权项】:
一种IGBT背面金属化的改善方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一、在硅衬底的正面完成正面图形工艺;步骤二、在所述硅衬底背面依次完成背面减薄工艺、背面注入工艺和激光退火工艺;步骤三、采用DHF清洗液对所述硅衬底背面进行DHF清洗,该DHF清洗用于去除所述硅衬底背面的自然氧化层以及在步骤一和二中形成的缺陷,所述DHF清洗的时间参数根据后续形成的背面金属层的Al和所述硅衬底背面的硅形成的接触电阻来确定,要求保证所述接触电阻满足要求;步骤四、在进行了所述DHF清洗后的所述硅衬底背面形成由Al、Ti、Ni和Ag叠加形成的所述背面金属层;步骤五、进行烤箱烘干工艺,所述烤箱烘干工艺的温度条件、时间条件和气氛条件根据所述背面金属层的Al和所述硅衬底背面的硅形成的接触电阻以及防止所述背面金属层的Ag脱落两个条件来确定;在保证所述接触电阻满足要求的条件下,通过降低所述烤箱烘干工艺的温度、时间或气氛中的氧浓度来防止所述背面金属层的Ag脱落。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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