[发明专利]提供采样数据的装置和方法及显示诊断界面的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201410395707.7 申请日: 2014-08-12
公开(公告)号: CN104159103B 公开(公告)日: 2017-01-18
发明(设计)人: 丁小晶;杨璐;郭鹏义 申请(专利权)人: 三星半导体(中国)研究开发有限公司;三星电子株式会社
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;G06F11/22
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司11286 代理人: 王艳娇,张云珠
地址: 215021 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种提供采样数据的装置和方法及显示诊断界面的装置和方法。提供采样数据的装置包括采样单元,在控制端的控制下,在用于采样的采样断点处对终端的显示系统进行采样,以获得用于诊断终端的显示系统的采样数据;存储单元,存储采样单元获得的采样数据;发送单元,在控制端的控制下将存储单元存储的采样数据发送到控制端。根据所述装置和方法,能够使终端在控制端的控制下获得并存储用于诊断终端的显示系统的采样数据,并在控制端基于采样数据生成直观的诊断界面,从而能够有效提高用户诊断终端的显示系统的效率。
搜索关键词: 提供 采样 数据 装置 方法 显示 诊断 界面
【主权项】:
一种在终端提供用于诊断终端的显示系统的采样数据的装置,包括:采样单元,在控制端的控制下,在用于采样的采样断点处对终端的显示系统进行采样,以获得用于诊断终端的显示系统的采样数据;存储单元,存储采样单元获得的采样数据;发送单元,在控制端的控制下将存储单元存储的采样数据发送到控制端,其中,采样数据包括与通过显示系统显示的至少一个应用相关的帧信息和状态信息,其中,帧信息包括通过显示系统显示的至少一个应用的帧图像的图像信息,状态信息包括关于所述至少一个应用的工作状态的参数,其中,采样断点是在显示系统的工作层中设置的采样位置。
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