[发明专利]一种服务器产品在老化柜内自动进行电压拉偏测试的方法无效
| 申请号: | 201410374144.3 | 申请日: | 2014-07-31 |
| 公开(公告)号: | CN104133142A | 公开(公告)日: | 2014-11-05 |
| 发明(设计)人: | 张东良 | 申请(专利权)人: | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人: | 姜明 |
| 地址: | 250101 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明公开了一种服务器产品在老化柜内自动进行电压拉偏测试的方法,属于服务器产品的老化测试方法,通过建立老化过程中的循环电压拉偏周期,在老化柜的供电柜增加自动计时控制模块,编写自动循环电压拉偏控制程序,结合服务器产品老化测试周期时间,自动循环电压拉偏控制程序控制实现老化柜内循环进出被老化测验的服务器产品,在老化测试周期内至少完成一个完整的电压拉偏周期测试。本发明有益效果:服务器产品在老化柜内采用循环进出机模式,根据自动计时控制模块启动自动循环电压拉偏控制程序,自动控制服务器产品的老化测试,老化测试过程中无需再人工控制调压操作,节省了人力,使得老化测试更加快捷方便;控制容易、成本降低。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 服务器 产品 老化 柜内 自动 进行 电压 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种服务器产品在老化柜内自动进行电压拉偏测试的方法,其特征在于通过建立老化过程中的循环电压拉偏周期,借助供电柜为老化柜供电,结合服务器产品老化测试周期时间,实现老化柜内循环进出被老化测验的服务器产品的情况下,在老化测试周期内至少完成一个完整的电压拉偏周期测试;包括如下步骤:(1)、确定服务器产品的老化测试周期时间,服务器产品在老化柜内是循环进出机模式; (2)、设定一个电压拉偏周期时间,电压拉偏周期时间=低电压时的测试时间+高电压时的测试时间+正常电压时的测试时间;老化测试周期时间大于电压拉偏周期时间;(3)、在老化柜的供电柜增加自动计时控制模块,编写自动循环电压拉偏控制程序;(4)、老化柜的供电柜接通电源后,通过自动计时控制模块启动自动循环电压拉偏控制程序;(5)、自动循环电压拉偏控制程序,将老化柜的供电电压自动调整到低电压进行测试;计时完成低压测试时间后,老化柜的供电电压自动调整到高电压进行测试;计时完成高压测试时间后,老化柜的供电电压自动调整到正常电压进行测试,完成正常电压测试时间,第一个循环电压拉偏周期结束;自动循环电压拉偏控制程序自动启动第二个循环电压拉偏周期,周而复始;(6)、老化柜内循环进出被老化测验的服务器产品,完成老化测试的服务器产品都至少经过一个电压拉偏周期的电压拉偏测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浪潮电子信息产业股份有限公司,未经浪潮电子信息产业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410374144.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。





