[发明专利]一种用于离子推力器测量的法拉第探针有效
申请号: | 201410364999.8 | 申请日: | 2014-07-29 |
公开(公告)号: | CN104202894A | 公开(公告)日: | 2014-12-10 |
发明(设计)人: | 汤海滨;章喆;张尊;徐宇杰 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | H05H1/00 | 分类号: | H05H1/00 |
代理公司: | 北京永创新实专利事务所 11121 | 代理人: | 赵文利 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开一种用于离子推力器测量的法拉第探针,使用接触式测量方法对离子推力器羽流等离子体进行测量。包括:钨表面、收集器、保护环、内外陶瓷垫片;具体连接关系为:保护环的内部安有收集器以及钨表面,钨表面与收集器过盈配合套接;内外陶瓷垫片固定卡在收集器和保护环之间;使得保护环与收集器及钨表面之间产生间隙;通过螺母固定外陶瓷垫片产生轴向的拉紧力,固定了整个法拉第探针。保护环加-30V偏置电压阻挡非轴向离子,收集器加-30V偏置电压采集离子电流,通过采集到的离子电流,经过分析计算得出离子推力器羽流的电流密度和离子数浓度。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 离子 推力 测量 法拉第 探针 | ||
【主权项】:
一种用于离子推力器测量的法拉第探针,其特征在于:包括钨表面、收集器、保护环、内陶瓷垫片、外陶瓷垫片和M2螺母;具体连接关系为:保护环位于法拉第探针最外环,设有凸台;保护环的内部安有收集器以及钨表面,钨表面采用钨材料加工的中心带有沉孔的圆形垫片,过盈配合套接在收集器的头部,收集器头部设有凸台由上下两个圆柱体组成,收集器头部下方连接杆部,通过内陶瓷垫片卡在收集器和保护环凸台之间进行固定;使得保护环与收集器及钨表面之间产生间隙;收集器杆部穿过保护环尾部,通过外陶瓷垫片卡于保护环之间;法拉第探针具体安装如下:法拉第探针与探针架垂直安装;前陶瓷绝缘子与后陶瓷绝缘垫片分别位于探针架的两侧固定,并将前陶瓷绝缘子卡在保护环的凸台与探针架之间;将后陶瓷绝缘垫片卡在M8螺母与探针架之间,将法拉第探针固定于探针架上;法拉第探针的测试电路包括法拉第探针,采样电阻、偏置电源和数据采集仪;法拉第探针通过连接偏置电源,同时串联采样电阻形成回路;数据采集仪并联采样电阻。
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