[发明专利]使用双极晶体管阵列的PUF方法和含双极晶体管阵列的电路在审
| 申请号： | 201410360445.0 | 申请日： | 2014-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN104348478A | 公开（公告）日： | 2015-02-11 |
| 发明（设计）人： | 托尼·范胡克;菲特·霍恩·恩古耶恩 | 申请（专利权）人： | 恩智浦有限公司 |
| 主分类号： | H03K19/082 | 分类号： | H03K19/082 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 倪斌 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 公开了一种通过对挑战的响应来标识组件的方法，该组件包括可并联连接以便具有公共集电极接触部、公共发射极接触部和公共基极接触部的双极晶体管的阵列，挑战包括表示总集电极电流值的值，该方法包括：接收挑战；向公共集电极接触部供应总集电极电流；检测一组晶体管中的每一个中的不稳定性；以及根据该组确定响应。还公开了用来运行这种方法的电路。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 双极晶体管 阵列 puf 方法 电路 | ||
【主权项】：
一种通过对挑战的响应来标识组件的方法，所述组件包括双极晶体管的阵列，其中每个双极晶体管具有基极接触部，以及每个双极晶体管具有主接触部，所述主接触部是集电极接触部和发射极接触部，并且所述双极晶体管可并联连接或已并联连接，以便具有公共集电极接触部、公共发射极接触部和公共基极接触部，所述方法包括：接收所述挑战；响应于所述挑战，通过将供应给公共主接触部之一的电流从第一级别增加到第二级别来向相应的公共主接触部供应总主接触部电流；检测所述晶体管中一组晶体管的每一个晶体管中的不稳定性；以及根据所述组确定所述响应。
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