[发明专利]用于气态氟化氢刻蚀二氧化硅的刻蚀腔体及其刻蚀系统有效
申请号: | 201410354793.7 | 申请日: | 2014-07-24 |
公开(公告)号: | CN104103561A | 公开(公告)日: | 2014-10-15 |
发明(设计)人: | 庞克俭;江西元;邵苏予;刘胜伟 | 申请(专利权)人: | 河北神通光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人: | 米文智 |
地址: | 050227 河北省石*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于气态氟化氢刻蚀二氧化硅的刻蚀腔体及其系统,所述系统包括:刻蚀腔体、气体产生装置和控制系统,气体产生装置用于将产生的刻蚀气体、氮气和乙醇气体进行混合输入到刻蚀腔体内,所述刻蚀腔体上设有进气口和出气口,刻蚀腔体内设有旋转平台、加热器和气体匀流装置,进入刻蚀腔体的混合气体通过气体匀流装置进行充分混合,旋转平台上放置有待刻蚀的半导体器件,控制系统控制气体产生装置产生混合气体,混合气体在刻蚀腔体内充分混合,控制系统控制旋转平台转动并控制加热器进行加热。 | ||
搜索关键词: | 用于 气态 氟化氢 刻蚀 二氧化硅 及其 系统 | ||
【主权项】:
一种用于气态氟化氢刻蚀二氧化硅的刻蚀腔体,其特征在于:所述刻蚀腔体(2)包括腔主体(21)、上盖(22)、气管、旋转平台(23)、匀流管、加热器和匀流板,所述腔主体(21)的上部使用上盖(22)进行密封,腔主体(21)上设有进气口和出气口,所述进气口和出气口位于所述腔主体的左右两侧,所述进气口内设有进气管(24),出气口内设有出气管(25),腔主体(21)内部的进气管(24)上设有进气匀流管(26),腔主体(21)内部的出气管(25)上设有出气匀流管(27),所述进气匀流管(26)的左侧设有进气匀流板(28),所述出气匀流管(27)的右侧设有出气匀流板(29),所述进气匀流管(26)与进气匀流板(28)之间设有右加热器(210),所述出气匀流管(27)与出气匀流板(29)之间设有左加热器(211),进气匀流板(28)与出气匀流板(29)之间保持间隔设置,所述旋转平台(23)位于进气匀流板(28)与出气匀流板(29)之间。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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