[发明专利]USB芯片的系统测试方法有效
| 申请号： | 201410347403.3 | 申请日： | 2014-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN104123212B | 公开（公告）日： | 2017-03-15 |
| 发明（设计）人： | 曾月珑;王刚 | 申请（专利权）人： | 四川和芯微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/28 | 分类号： | G06F11/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610041 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种USB芯片的系统测试方法，用于对USB3.0芯片进行系统测试，其包括如下步骤a检测编码模块将标准USB3.0芯片内的所有逻辑状态按顺序依次标记，产生对应的标记函数；b检测编码模块按照设定的编码规则，将芯片内部逻辑状态所对应的标记函数进行编码，形成标准编码值，将标准编码值记录到标准文件库中；c在待测USB3.0芯片仿真过程中，检测模块将待测USB3.0芯片内部逻辑状态按照相同的编码规则进行编码，将获得的编码值记录到临时文件中，将编码值内容与标准编码值内容进行对比，查找对比结果不一致的编码值内容。本发明的USB芯片的系统测试方法，投资成本低，在测试过程与逻辑仿真同步进行，因而能够快速的对USB3.0芯片内部逻辑状态进行实时监控和错误定位。 | ||
| 搜索关键词： | usb 芯片 系统 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种USB芯片的系统测试方法，用于对USB3.0芯片进行系统测试，其特征在于，包括如下步骤：a.检测编码模块将标准USB3.0芯片内的所有逻辑状态按顺序依次标记，且产生对应的标记函数；b.检测编码模块按照设定的编码规则，将芯片内部逻辑状态所对应的标记函数进行编码，形成标准编码值，并将标准编码值记录到标准文件库中；c.在待测USB3.0芯片仿真过程中，检测模块将待测USB3.0芯片内部逻辑状态按照相同的编码规则进行编码，将编码后获得的编码值记录到临时文件中，且将临时文件中的编码值内容与标准文件库中的标准编码值内容进行对比，查找对比结果不一致的编码值内容。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于四川和芯微电子股份有限公司，未经四川和芯微电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410347403.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
