[发明专利]一种数控机床标准轨迹测试分析系统有效

专利信息
申请号: 201410340624.8 申请日: 2014-07-17
公开(公告)号: CN104122840B 公开(公告)日: 2017-02-01
发明(设计)人: 姜歌东;窦成东;史建强;王恪典;陶涛;张东升;沈健;徐仁恺 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G05B19/406 分类号: G05B19/406
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所61215 代理人: 贺建斌
地址: 710049*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种数控机床标准轨迹测试分析系统,由硬件和软件两部分组成,硬件部分采集数控机床的内置编码器、光栅尺信号和外置位置传感器信号,能够实现同步采集多通道信号;软件部分进行标准轨迹测试分析,完成标准圆轨迹测试、空间圆轨迹测试、菱形轨迹测试以及直线往复测试,获取圆误差图谱、空间圆误差图谱、菱形误差图谱以及传动误差图谱,实现数控机床的运动精度和运动特性检测,本发明可以给出机床的标准圆轨迹测试、空间圆轨迹测试、菱形轨迹测试以及直线往复测试方法,轨迹明确、设置操作简单、分析结果有效,实现数控机床的精度检测,为数控机床的调试及验收提供了有效的工具。
搜索关键词: 一种 数控机床 标准 轨迹 测试 分析 系统
【主权项】:
一种数控机床标准轨迹测试分析系统,由硬件和软件两部分组成,其特征在于:硬件部分采集数控机床的内置编码器、光栅尺信号和外置位置传感器信号,能够实现同步采集多通道信号;软件部分进行标准轨迹测试分析,由标准圆轨迹测试模块、空间圆轨迹测试模块、菱形轨迹测试模块以及直线往复测试模块组成,各个测试模块由参数设置、数据采集、实验分析、实验报告四部分组成,完成标准圆轨迹测试、空间圆轨迹测试、菱形轨迹测试以及直线往复测试,获取圆误差图谱、空间圆误差图谱、菱形误差图谱以及传动误差图谱,实现数控机床的运动精度和运动特性检测;所述标准圆轨迹测试是指获取两轴运动圆轨迹,完成对反向间隙、反向越冲、横向间隙、伺服不匹配、比例不匹配、进给率、中心偏置和圆度等8项动态误差的分析,并绘制机床的圆误差图谱;所述空间圆轨迹测试是指获取三轴运动空间圆轨迹,完成空间圆度、反向间隙、反向越冲的动态误差的分析,并绘制机床的空间圆误差图谱;所述菱形轨迹测试是指获取两轴运动菱形轨迹,完成对轮廓误差的分析,并绘制机床菱形误差图谱;所述直线往复测试是指获取单轴匀速往返信息,完成对反向间隙、传动误差的分析,并绘制机床传动误差图谱。
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