[发明专利]自动测试设备和升级自动测试设备的集成电路测试界面有效
| 申请号： | 201410338702.0 | 申请日： | 2014-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN104808133B | 公开（公告）日： | 2018-02-06 |
| 发明（设计）人： | 陈俊吉;赖鸿尉;李宗润 | 申请（专利权）人： | 矽创电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司44223 | 代理人： | 江耀纯 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种自动测试设备和升级一自动测试设备的集成电路测试界面，所述集成电路测试界面用以测试一待测组件，所述集成电路测试界面包含至少一引脚，用来接收或传送至少一测试信号至该自动测试设备的一测试机；复数个数字化仪，耦接于该至少一引脚，以产生一数字信号；一处理器，耦接于该复数个数字化仪，用来进行该数字信号的处理；以及一连接件，用来连接该处理器与一计算机设备，以将该处理器的一输出信号传送至该计算机设备；其中，该集成电路测试界面设置于该自动测试设备的该测试机与一针测机之间。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 测试 设备 升级 集成电路 界面 | ||
【主权项】：
一种集成电路测试界面，用来升级一自动测试设备，以测试一待测组件，该集成电路测试界面包含：至少一引脚，用来接收或传送至少一测试信号至该自动测试设备的一测试机；复数个数字化仪，耦接于该至少一引脚，以产生一数字信号；一处理器，耦接于该复数个数字化仪，用来进行该数字信号的处理；以及一连接件，用来连接该处理器与一计算机设备，以将该处理器的一输出信号传送至该计算机设备；其中，该集成电路测试界面设置于该自动测试设备的该测试机与一针测机之间；其中，该至少一引脚包含：一第一引脚，用来传送该至少一测试信号的一第一测试信号至该自动测试设备的该测试机，该第一测试信号包含一致能信号，以读写一测试数据；一第二引脚，用来传送该至少一测试信号的一第二测试信号至该自动测试设备的该测试机，该第二测试信号包含一取样信号，以决定该待测组件的取样次数；以及一第三引脚，用来传送该至少一测试信号的一第三测试信号至该自动测试设备的该测试机，该第三测试信号包含一测试结果。
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