[发明专利]一种基于实物基准的多位姿测量机末端的坐标识别方法在审
申请号: | 201410333272.3 | 申请日: | 2014-07-14 |
公开(公告)号: | CN104121876A | 公开(公告)日: | 2014-10-29 |
发明(设计)人: | 邵伟;刘冲;乐静;杨宇祥;吴莹 | 申请(专利权)人: | 西安理工大学 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00;G01B21/20 |
代理公司: | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人: | 李娜 |
地址: | 710048*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种基于实物基准的多位姿测量机末端的坐标识别方法,首先将实物基准装卡在多位姿测量机的转台上固定好;将实物基准和转台调到同心位置,利用多位姿测量机的传感器对实物基准进行分层扫描;在扫描的同时测量实物基准的标准圆柱面4和标准圆锥面5,然后计算出每个截面的末端坐标,从而得到多位姿测量机末端的坐标。本发明利用装卡在多位姿测量机的转台上的实物基准及转台的调心功能,与多位姿测量机的传感器对实物基准进行分层扫描相结合,通过测量软件计算出坐标值,即得到多位姿测量机末端的坐标值,实现了多位姿测量机的末端坐标定位;该方法同时具有结构简单,成本低,使用简单等特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 实物 基准 多位姿 测量 末端 坐标 识别 方法 | ||
【主权项】:
一种基于实物基准的多位姿测量机末端的坐标识别方法,其特征在于,具体步骤如下:步骤1,首先将实物基准装卡在多位姿测量机的转台上,固定好;步骤2,将实物基准和转台调到同心位置;步骤3,利用多位姿测量机的传感器对实物基准进行分层扫描;步骤4,在扫描的同时测量实物基准的标准圆柱面4和标准圆锥面5,然后通过公式计算出每个截面的末端坐标,从而得到多位姿测量机末端的坐标(x,y,z)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安理工大学,未经西安理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410333272.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。