[发明专利]一种集成光干涉和散射信息分析的显微成像系统及方法

摘要

本发明公开了一种集成光干涉和散射信息分析的显微成像系统，是基于共轴迈克尔孙干涉光路和米劳干涉装置，样品位于载物台上，载物台为一半透半反镜，反射光束通过米劳干涉装置在迈克尔孙干涉光路上产生干涉，由显微镜得到放大的干涉图像，从图像可以提取样品的相位信息。同时，通过样品的前向透射光束经过半透半反镜面后，产生前向小角和大角散射，该散射图像可由前向CCD接收，从中可获取前向散射幅值分布，由散射理论可以解构样品的大小。本发明装置通过集成相位和散射信息可更加准确地检测样品的形态结构，在透明物体显微形态测量方面具有重要的实用价值，特别是在生物细胞亚结构形态的检测应用领域。

主权项

一种集成光干涉和散射信息分析的显微成像系统，其特征在于包括：共轴迈克尔孙干涉光路和米劳干涉装置，具体为: 所述的米劳干涉装置由第三透镜(7)、反光镜(8)、第二分光镜(9)组成；经过所述米劳干涉装置的图像经显微镜(14)放大后，由干涉图像接收器即CCD‑2(16)接收为数字相位图像并由计算机(17)进行数值计算和处理；所述的迈克尔孙干涉光路由光源(1)、第一分光镜(6)、反光镜(8)、第二分光镜(9)、载物台(10)组成；还包括由第四透镜(11)和第五透镜（12）组成的透镜扩束准直系统、散射强度接收器即CCD‑1(13)、干涉图像接收器即CCD‑2(16)、显微镜(14)、第六透镜(15)、用于对散射信息和相位信息进行采集存储和处理的计算机(17)；所述载物台(10)为一个角度可调的半透半反镜，与反光镜(8)夹角可调，可实现同轴、离轴和轻微离轴干涉的光路调节；所述的载物台(10)是半透半反镜，以保证经过样品的散射光可以透过载物台向下传输；第一分光镜(6)与水平面成45度夹角；第二分光镜(9)的摆放位置保证使载物台(10)的反射光与反光镜(8)的反射光所经过的路程相等；反光镜(8)放在第三透镜(7)下面的中心位置，其尺寸在能保证发生反射的基础上越小越好。