[发明专利]一种光学集成芯片与光纤组件的自动耦合方法及系统有效
申请号: | 201410306812.9 | 申请日: | 2014-06-30 |
公开(公告)号: | CN105319655B | 公开(公告)日: | 2017-02-01 |
发明(设计)人: | 刘银;刘铁权;徐辉 | 申请(专利权)人: | 北京世维通科技发展有限公司 |
主分类号: | G02B6/42 | 分类号: | G02B6/42 |
代理公司: | 北京邦信阳专利商标代理有限公司11012 | 代理人: | 王昭林,黄姝 |
地址: | 065201 河北省廊坊*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明公开一种光学集成芯片与光纤组件的自动耦合方法及系统,方法包括构建包括输入层、隐层和输出层的神经网络;预先获取所述光纤组件与多个样本光学集成芯片进行对准的多组样本参数值;以多组所述样本参数值训练所述神经网络;获取所述光纤组件与待对准光学集成芯片的多组实际参数值,每组所述实际参数值作为所述神经网络输入层的一个输入量输入所述神经网络,从所述神经网络输出层得到一个包括一组输出参数的输出量;根据所述待移动位置参数调整所述光纤组件相对所述光学集成芯片的位置。本发明具有对准时间短、耦合效率高、重复性好、应用广泛等优点,有效地克服了传统的爬山算法搜索定位时间长,容易陷入局部极值的缺点。 | ||
搜索关键词: | 一种 光学 集成 芯片 光纤 组件 自动 耦合 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种光学集成芯片与光纤组件的自动耦合方法,其特征在于,包括:构建包括输入层、隐层和输出层的神经网络;预先获取所述光纤组件与多个样本光学集成芯片进行对准的多组样本参数值,每组所述样本参数值包括所述光纤组件的样本位置参数,以及所述光纤组件在所述样本位置参数下与所述样本光学集成芯片的耦合功率,所述样本位置参数包括至少一个自由度;以多组所述样本参数值训练所述神经网络,每组所述样本参数值作为训练所述神经网络的一个训练样本;获取所述光纤组件与待对准光学集成芯片的多组实际参数值,每组所述实际参数值作为所述神经网络输入层的一个输入量输入所述神经网络,从所述神经网络输出层得到一个包括一组输出参数的输出量,每组所述实际参数值包括所述光纤组件的实际位置参数,以及所述光纤组件在所述实际位置参数下与所述待对准光学集成芯片的耦合功率,所述实际位置参数具有与所述样本位置参数相同数量的自由度,所述输出参数包括:通过所述神经网络得到的最大耦合功率,以及与所述最大耦合功率对应的待移动位置参数,所述待移动位置参数具有与所述样本位置参数相同数量的自由度;根据所述待移动位置参数调整所述光纤组件相对所述光学集成芯片的位置。
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