[发明专利]一种SIP铅锡封装方法及其封装结构有效
申请号: | 201410295221.6 | 申请日: | 2014-06-27 |
公开(公告)号: | CN104112676B | 公开(公告)日: | 2017-01-11 |
发明(设计)人: | 卢朝保;陈依军;王栋;金珠;董金生;黄智;王阔;代敏 | 申请(专利权)人: | 成都嘉纳海威科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/52;H01L23/31;H01L23/10 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610000 四川省成都市*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种SIP铅锡封装方法及其封装结构,该SIP铅锡封装方法包括以下步骤,在腔体和盖板上镀银,清洗腔体和电路片;用导电胶将电路片粘贴在腔体内部底面;将绝缘子焊封在腔体上的安装孔内;用导电胶将芯片,元器件粘贴在电路片上预留位置处;绝缘子内导体与电路片通过锡铅焊连接;用酒精溶液超声清洗盖板,并在盖板边缘缠绕一圈Sn63Pb37焊锡丝后,将腔体和盖板扣合在一起,通过加热台加热使焊锡丝熔化,使腔体与盖板形成良好的气密焊接;最后在腔体的两端绝缘子处用螺钉装配固定上SMA接头。采用SIP铅锡封装方法生产的SIP封装结构解决了SIP封装结构气密性差的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 sip 封装 方法 及其 结构 | ||
【主权项】:
一种SIP铅锡封装方法,其特征在于,所述方法包括以下工艺步骤:步骤1,在腔体和盖板的外表面均匀地镀上厚度为4um‑8um的银层;步骤2,将腔体、电路片放在异丙醇溶液中,用超声波清洗10‑20分钟;步骤3,在腔体内部的底面上均匀的涂覆一层厚度为0.05mm‑0.12mm的导电胶;在导电胶上安放电路片,用压块压住,并用夹具固定;将腔体放入烘箱中,在120℃高温下烘烤50‑60分钟取出;步骤4,在绝缘子外表面均匀涂覆一层厚度为0.2‑0.8mm的Sn63Pb37焊料,将绝缘子插入腔体上的安装孔内固定,并将固定在一起的绝缘子和腔体置于温度设置在205‑220℃高温的热台上烘烤45‑90s,取出自然冷却;步骤5,在电路片上的芯片预留位处均匀地涂覆一层厚度为0.05mm‑0.12mm的导电胶,安放上芯片,并将整个腔体放入烘箱中,在120℃高温下烘烤50‑60分钟取出;步骤6,绝缘子内导体与电路片通过Sn63Pb37焊连接;步骤7,芯片与电路片之间及芯片与绝缘子内导体之间通过键合25um或18um金丝将两者连接在一起;步骤8,将盖板置于酒精溶液中,用超声波清洗10‑20分钟,取出放入烘箱,在80℃‑100℃温度下烘烤20‑30分钟,再用酒精棉清洗腔体的封盖边缘;沿着盖板边缘缠绕一圈直径为0.2‑0.5mm的Sn63Pb37焊锡丝,将盖板与腔体紧密贴合后置于温度为205‑220℃的热台上,对盖板施加一定的压力,待焊锡丝熔化15‑30s后,取出封装在一起的腔体和盖板置于室温冷却;步骤9,在腔体的两端的绝缘子处用螺钉装配固定上SMA接头。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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