[发明专利]一种基于白光频域干涉法测量气体折射率的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201410271464.6 申请日: 2014-06-17
公开(公告)号: CN104062266A 公开(公告)日: 2014-09-24
发明(设计)人: 杨永佳;蒋勇;邱荣;周自刚;闫汇 申请(专利权)人: 西南科技大学
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45
代理公司: 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 代理人: 董芙蓉
地址: 621010 四川省绵阳*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及一种基于白光频域干涉法测量气体折射率的装置和方法。该测量装置由宽带光源、宽带分束镜、宽带全反镜、两个石英空腔气室和光谱仪等光学元器件组成,由宽带光源发出的光经宽带分束镜分束和宽带反射镜反射后,两次通过石英空腔气室,并经宽带分束镜合束,最终共同进入光谱仪在频率域内发生频域干涉,通过对频域干涉信号的分析,可以精确获得气体的折射率。该方法是一种精度高、无需实时记录或观测的绝对测量方法,具有较大的应用和推广价值。
搜索关键词: 一种 基于 白光 干涉 测量 气体 折射率 装置 方法
【主权项】:
一种基于白光频域干涉法测量气体折射率的装置,其特征在于:宽带光源(1)输出的光束首先经过一个小孔(2),再经透镜(3)作用后变为平行光束,该平行光束经宽带分束镜(4)分为两束,其中一束称之为参考光束,其所在的支路中设置石英空腔气室(7);另一束称之为信号光束,其所在的支路中设置石英空腔气室(8),两光束分别经宽带反射镜(5)、宽带反射镜(6)反射后均沿原光路返回,并在宽带分束镜(4)处合束,最后进入光谱仪(9),由光谱仪记录其频域干涉信号。
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