[发明专利]一种密封件直径参数测量装置和测量方法有效

专利信息
申请号: 201410270613.7 申请日: 2014-06-17
公开(公告)号: CN104019756B 公开(公告)日: 2017-09-29
发明(设计)人: 雷志勇;高俊钗;王泽民;李翰山;李静;雷鸣 申请(专利权)人: 西安工业大学
主分类号: G01B11/08 分类号: G01B11/08;G01B11/12;G01B11/24
代理公司: 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙)11400 代理人: 葛强,邬玥
地址: 710021 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供一种密封件直径参数测量装置,其包括密封件直径参数测量台、处理计算机以及控制柜,其中所述密封件直径参数测量台安装在控制柜内部上侧,密封件直径参数测量台包括面阵相机、供应转接板、光学投影屏以及拨杆传输转台,面阵相机位于密封件直径参数测量台内部上侧并与处理计算机相连接,拨杆传输转台包括基板架、拨杆、转轴、电机、内嵌玻璃板、光电传感器以及电机驱动控制器。采用本发明的密封件直径参数测量装置,可以实现密封件的自动供给、定位和分类,准确计算出密封件的内外直径,操作灵活且简单,可给出可视化的处理结果。
搜索关键词: 一种 密封件 直径 参数 测量 装置 测量方法
【主权项】:
一种密封件直径参数测量装置,其包括密封件直径参数测量台(1)、处理计算机(2)以及控制柜(3),其中所述密封件直径参数测量台(1)安装在控制柜(3)内部上侧,密封件直径参数测量台(1)包括面阵相机(4)、供应转接板(13)、光学投影屏(6)以及拨杆传输转台,其特征在于:面阵相机(4)位于密封件直径参数测量台(1)内部上侧并由支架(5)支撑,其配置地用于采集密封件在光学投影屏上的成像,支架(5)固定在密封件直径参数测量台(1)的一侧内壁上,该面阵相机(4)与处理计算机(2)相连接,供应转接板(13)固定在密封件直径参数测量台(1)的另一侧内壁上并且倾斜放置,光学投影屏(6)固定在密封件直径参数测量台(1)的侧壁上并位于面阵相机(4)的正下方,拨杆传输转台位于供应转接板(13)和光学投影屏(6)的下方,其中,拨杆传输转台包括第一基板架(8)、第二基板架(39)、拨杆(7)、内嵌玻璃板(38)、光电传感器、转轴(42)、固定圈(43)和电机(14),其中转轴(42)与电机(14)连接,第一基板架(8)、第二基板架(39)、固定圈(43)、拨杆(7)通过转轴(42)连接在一起,第一基板架(8)为正方形且为环状,第二基板架(39)为十字形,其内嵌在第一基板架(8)之中且其各端均与第一基板架(8)内环边缘固定连接,第一基板架(8)的厚度大于第二基板架(39)的厚度,内嵌玻璃板(38)由三块长方形玻璃板拼接而成并置于第二基板架(39)之上且内嵌卡在第一基板架(8)之内,固定圈(43)和拨杆(7)位于内嵌玻璃板(38)之上,每个拨杆(7)的一端与转轴(42)连接,另一端与固定圈(43)相连接。
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