[发明专利]一种简易的低成本的测试方法在审
| 申请号： | 201410270330.2 | 申请日： | 2014-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN104020379A | 公开（公告）日： | 2014-09-03 |
| 发明（设计）人： | 王素华 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人： | 张靖 |
| 地址： | 250014 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种简易的低成本的测试方法，包括测试治具和测试板，在测试板同层面设计两条不同长度的被测传输线分别为命名为X1、X2，作为测试结构A、B，X1-X2的长度差至少要大于4inch，测试线的两端分别通过过孔连接到测试点；短线X2不能太短；通过传输线X1测得结构A的S参数包括：IL(A)=X1传输线损耗+2个PCB过孔损耗+探针损耗+测试治具不确定影响；通过传输线X2测得结构B的S参数包括：IL(B)=X2传输线损耗+2个PCB过孔损耗+探针损耗+测试治具不确定影响；计算测试结构A,B做差后每英寸的损耗公式：dB/inchloss=(IL(A)–IL(B))/(X2-X1)，通过此公式得到不同频点下每英寸传输线的损耗值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 简易 低成本 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种简易的低成本的测试方法，其特征在于：包括测试治具和测试板，在PCB测试板同层面设计两条不同长度的被测传输线分别为命名为X1、X2，作为测试结构A、B， X1‑X2的长度差至少要大于4inch，测试线的两端分别通过过孔连接到测试点；通过传输线X1测得结构A的S参数包括：IL(A)=X1传输线损耗+2个PCB过孔损耗+探针损耗+测试治具不确定影响；通过传输线X2测得结构B的S参数包括：IL(B)=X2传输线损耗+2个PCB过孔损耗+探针损耗+测试治具不确定影响；计算测试结构A,B做差后每英寸的损耗公式：dB/inch loss = (IL(A) –IL(B)) / (X2‑X1)，通过此公式得到不同频点下每英寸传输线的损耗值。
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