[发明专利]一种发光二极管外延片及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201410261342.9 申请日: 2014-06-12
公开(公告)号: CN104091868B 公开(公告)日: 2018-03-06
发明(设计)人: 李昱桦;乔楠;韩杰;胡加辉;魏世祯 申请(专利权)人: 华灿光电(苏州)有限公司
主分类号: H01L33/02 分类号: H01L33/02;H01L33/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司11138 代理人: 徐立
地址: 215600 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种发光二极管外延片及其制造方法,属于发光二极管领域。所述外延片包括缓冲层、3D生长层、2D填平层、N型层、多量子阱和P型层,所述2D填平层包括若干个交替生长的第一子层和第二子层,其中一个所述第一子层与所述3D生长层直接接触,所述第一子层的数量不小于2且与所述第二子层的数量相同,所述第一子层采用无掺杂的AlxGa1‑xN制成,所述第二子层采用无掺杂的GaN制成,0.5≤x<1。所述方法包括提供衬底并在衬底上依次生长缓冲层、3D生长层、2D填平层、N型层、多量子阱层和P型层,生长2D填平层包括交替生长若干个第一子层和若干个第二子层。本发明有效减小由衬底与GaN晶格失配引起的位错密度,从而提高LED的内量子效率和抗静电能力。
搜索关键词: 一种 发光二极管 外延 及其 制造 方法
【主权项】:
一种发光二极管外延片,包括衬底、缓冲层、3D生长层、2D填平层、N型层、多量子阱和P型层,其特征在于,所述2D填平层包括若干个交替生长的第一子层和第二子层,其中一个所述第一子层与所述3D生长层直接接触,所述第一子层的数量不小于2且与所述第二子层的数量相同,所述第一子层采用无掺杂的AlxGa1‑xN制成,所述第二子层采用无掺杂的GaN制成,0.5≤x<1;每个所述第一子层的Al浓度不同、且每个所述第一子层的Al浓度按生长顺序逐渐减小,所述第一子层的数量为15,每个所述第一子层的Al浓度依次为80%、78%、76%、74%、72%、70%、68%、66%、64%、62%、60%、58%、56%、54%、52%;所述第一子层与所述第二子层的厚度比例不大于1:3。
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