[发明专利]生长在Si衬底上的AlGaN薄膜及其制备方法和应用有效

专利信息
申请号: 201410255449.2 申请日: 2014-06-10
公开(公告)号: CN104037282B 公开(公告)日: 2017-03-08
发明(设计)人: 李国强 申请(专利权)人: 广州市众拓光电科技有限公司
主分类号: H01L33/02 分类号: H01L33/02;H01L33/12;C30B25/22;C30B29/40
代理公司: 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙)44288 代理人: 汤喜友
地址: 510000 广东省广州市广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了生长在Si衬底上的AlGaN薄膜,其包括Si衬底和在Si衬底上外延生长的AlGaN薄膜;所述Si衬底的晶体取向为111面偏100方向0.5‑1°;经过采用脉冲激光沉积工艺生长AlGaN薄膜、采用金属有机化学气相沉积工艺生长Al原子层、对Al原子层进行氮化处理、衬底以及其晶向的选取等步骤制备而成。所述AlGaN薄膜应用于光电探测器或LED器件中。本发明解决Si衬底上GaN薄膜的裂纹问题的同时提高AlGaN薄膜的质量、纯度和界面性能,并降低工艺成本。
搜索关键词: 生长 si 衬底 algan 薄膜 及其 制备 方法 应用
【主权项】:
生长在Si衬底上的AlGaN薄膜,其特征在于:其包括Si衬底和在Si衬底上外延生长的AlGaN薄膜;所述Si衬底的晶体取向为111面偏100方向0.5‑1°;所述生长在Si衬底上的AlGaN薄膜的制备方法,其顺次包括以下步骤:1)衬底以及其晶向的选取:采用Si衬底,选取111面偏100方向0.5‑1°的晶体取向;2)采用金属有机化学气相沉积工艺生长Al原子层;3)对Al原子层进行氮化处理;4)采用脉冲激光沉积工艺生长AlGaN薄膜。
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