[发明专利]一种集成电路的针脚检测方法及装置

摘要

本发明公开了一种集成电路的针脚检测方法及装置，方法包括以下步骤，载入待检测集成电路的外观图像，标记该外观图像中的针脚部分为待检测区域；扫描待检测区域中每个针脚图像的最外围像素，并用矩形将其标记为待验证针脚框；针对待验证针脚框进行判断，若同时满足条件1、条件2和条件3，则该待验证针脚框成功通过验证。本发明的有益效果：图像优化处理使针脚图像与其他部分图像能明显区分；判断待检测区域的数量调用相应的线程同时进行扫描，进一步提高了工作效率；通过设置三个条件判断针脚是否存在异常，既可检测斜脚，还可检测翘脚，保证了检测的全面性。

主权项

一种集成电路的针脚检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤A：载入待检测集成电路的外观图像，并标记该外观图像中的针脚部分为待检测区域；步骤F：扫描待检测区域中每个针脚图像的最外围像素，并用一矩形将其进行框选并标记为待验证针脚框；步骤G：针对待验证针脚框进行判断，若同时满足条件1、条件2和条件3，则该待验证针脚框成功通过验证，否则该待验证针脚框为异常，条件1和条件2用于判断针脚是否有斜脚异常，条件3用于判断针脚是否有翘脚异常；其中，条件1为：相邻两个待检测针脚框的距离小于等于预设的第一距离值；条件2为：每个待检测针脚框中线条的斜率小于等于预设的斜率值；条件3为：选取位于同一排两端的待验证针脚框，用一直线分别连接两个待验证针脚框的最外侧，位于该两个待验证针脚之间的待验证针脚的最外侧与该直线的距离小于等于预设的第二距离值。