[发明专利]禹余粮的X射线粉末衍射Fourier指纹图谱的建立方法、标准指纹图谱及其应用在审

专利信息
申请号: 201410236239.9 申请日: 2014-05-29
公开(公告)号: CN104034743A 公开(公告)日: 2014-09-10
发明(设计)人: 刘圣金;吴德康;杨欢;林瑞超;田金改 申请(专利权)人: 南京中医药大学
主分类号: G01N23/20 分类号: G01N23/20
代理公司: 江苏致邦律师事务所 32230 代理人: 徐蓓
地址: 210046 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明针对现有禹余粮质量控制技术中的欠缺,提供禹余粮XRDFourier标准指纹图谱的建立方法,具体为18个不同批次样品进行X射线粉末衍射扫描获得XRDFourier图谱,筛除相对偏差较大的批次,应用Origin8将样品图谱的几何拓扑图形叠加平均后,建立禹余粮XRDFourier对照指纹图谱;再利用MidJade5进行寻峰处理,筛选出强度较大的共有特征峰13个;最后计算相似度,各批次样品的相似度良好,各种计算方法之间无明显差异,由此建立禹余粮XRDFourier标准指纹图谱。同时本发明还提供上述方法建立的禹余粮XRDFourier标准指纹图谱及其应用方法。通过本发明提供的指纹图谱,为禹余粮药材的品种鉴定和质量评价提供了科学依据。同时,主成分分析可以看出,石英和碱式氧化铁为禹余粮的主要矿物组成。
搜索关键词: 余粮 射线 粉末 衍射 fourier 指纹 图谱 建立 方法 标准 及其 应用
【主权项】:
矿物药禹余粮的X射线粉末衍射Fourier指纹图谱的建立方法,该方法包括以下步骤:1)收集18个不同批次的矿物药禹余粮进行X射线粉末衍射扫描获得XRD Fourier图谱,筛除相对偏差较大的批次,采用其余批次的禹余粮样品图谱应用Origin 8 数据分析和绘图软件将样品图谱的几何拓扑图形叠加平均后,建立禹余粮XRD Fourier对照指纹图谱;2)利用Mid Jade 5对样品的XRD Fourier指纹图谱进行寻峰处理,经分析比较,禹余粮XRD Fourier指纹图谱中强度较大的的共有特征峰标定有13个,其2θ角值与晶格间距依次为:17.74±0.20,5.00±0.06;19.82±0.10,4.48±0.03;20.82±0.04,4.26±0.01;21.18±0.10,4.19±0.02;26.60±0.06,3.35±0.01;33.22±0.06,2.69±0.01;36.54±0.14,2.46±0.01;40.24±0.10,2.24;42.40±0.08,2.13;50.10±0.04,1.82;53.24±0.14,1.72±0.02;59.92±0.06,1.54;68.28±0.06,1.37; 3)相似度评价:采用步骤1)中所述叠加平均计算得到所述禹余粮XRD Fourier对照指纹图谱,计算不同禹余粮药材XRD Fourier指纹图谱的相似度,结果表明,各批次样品的相似度均大于98%,相似度良好,各种计算方法之间无明显差异,由此建立禹余粮X射线粉末衍射Fourier标准指纹图谱。
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