[发明专利]一种质子断层扫描方法及装置有效
| 申请号： | 201410218120.9 | 申请日： | 2014-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN103977506A | 公开（公告）日： | 2014-08-13 |
| 发明（设计）人： | 魏涛;杨国君;李一丁;张小丁;江孝国;张卓;石金水 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院流体物理研究所 |
| 主分类号： | A61N5/10 | 分类号： | A61N5/10 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 梁田 |
| 地址： | 621000*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种质子断层扫描方法及装置，所述方法包括：首先利用治疗头发射出质子束，然后对所述质子束进行调制匹配整形，使所述质子束照射在客体的预定部位上，然后通过磁透镜组使所述质子束实现1：1成像，最后利用闪烁体晶体和CCD相机实现图像的实时采集，解决了现有的质子断层扫描方法存在扫描不准确存在误差，空间分辨率较差的技术问题，实现了制造断层扫描方法扫描准确扫描精度较高，误差较小，且空间分辨率较高的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 质子 断层 扫描 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种质子断层扫描方法，其特征在于，所述方法包括：利用治疗头发射出质子束；对所述质子束进行调制匹配整形，使所述质子束照射在客体的预定部位上；通过磁透镜组使所述质子束实现1：1成像；利用闪烁体晶体和CCD相机实现图像的实时采集。
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