[发明专利]频谱信息去冗优化的软件缺陷定位方法

摘要

本发明提供一种频谱信息去冗优化的软件缺陷定位方法，通过运行测试用例，收集程序运行结果信息即频谱信息；对所得频谱信息进行去冗优化处理，利用频谱信息计算可疑度；根据可疑度值的大小对语句进行降序排列，根据已排序的语句序列逐个进行排错，直至找到引发程序异常的语句。本发明在基于频谱的错误定位方法中，在利用覆盖信息表进行可疑度计算之前，对频谱信息进行去冗余处理，利用有效的频谱信息进行可疑度计算，提高根据可疑度进行缺陷定位的可靠性，进而提高软件缺陷定位的效率。

主权项

一种频谱信息去冗优化的软件缺陷定位方法，其特征在于：通过运行测试用例，收集程序运行结果信息即频谱信息；对所得频谱信息进行去冗优化处理，利用频谱信息计算可疑度；根据可疑度值的大小对语句进行降序排列，根据已排序的语句序列逐个进行排错，直至找到引发程序异常的语句；具体为：S1、获取可执行的待测程序以及测试用例集；S2、执行测试用例，获取程序执行的动态信息；S3、收集所有测试用例的运行情况，并进行去冗余处理，生成无冗余覆盖信息表；具体为：S31、首个测试用例默认处理；具体为：默认第一个测试用例test1为有效测试用例；对第一个有效测试用例test1进行编号，记为Test1，表示第一个有效测试用例；拓展有效测试用例的执行情况为FF[test1]{Test1，F[test1]{T(S1)，T(S2)，T(S3)...T(Sj)...T(Sn)，R}}，即为FF[test1]{Test1，T(S1)，T(S2)，T(S3)...T(Sj)...T(Sn)，R}；收集测试用例testi的运行情况，记为F[testi]{T(S1)，T(S2)，T(S3)…T(Sj)…T(Sn)，R}，也即频谱信息，表示测试用例运行轨迹，其中，T(S1)，T(S2)，T(S3)…T(Sj)…T(Sn)分别表示各语句S1，S2，S3，...，Sj，...，Sn覆盖情况，Sj表示程序P的第j条语句，n为程序语句的总条数，R表示运行结果；S32、将FF[test1]{Test1，T(S1)，T(S2)，T(S3)...T(Sj)...T(Sn)，R}记入覆盖信息表G，G由FF[test1]{Test1，T(S1)，T(S2)，T(S3)...T(Sj)...T(Sn)，R}累积生成；S33、获取下一条测试用例的执行情况F[testi]{T(S1)，T(S2)，T(S3)...T(Sj)...T(Sn)，R}；S34、判定F[testi]{T(S1)，T(S2)，T(S3)...T(Sj)...T(Sn)，R}是否与覆盖信息表G已有行F[test]相同，如果“是”，转步骤S35，否则转步骤S37；S35、判定测试testi为非有效测试用例；S36、删除F[testi]{T(S1)，T(S2)，T(S3)...T(Sj)...T(Sn)，R}；S37、判定测试用例testi为有效测试用例；S38、对有效测试用例testi进行编号，编为testI，表示第I个有效测试用例；S39、拓展testi运行结果为FF[testi]{TestI，F[testi]{T(S1)，T(S2)，T(S3)...T(Sj)...T(Sn)，R}}，即FF[testi]{TestI，T(S1)，T(S2)，T(S3)...T(Sj)...T(Sn)，R}；S310、将FF[testi]{TestI，T(S1)，T(S2)，T(S3)...T(Sj)...T(Sn)，R}记入覆盖信息表G中；S311、判断Listsuites中所有测试用例是否都被执行，如果“是”，转步骤S312，否则转步骤S33；S312、获得最终覆盖信息表G；S4、根据覆盖信息表进行语句可疑度计算；S5、根据可疑度值，对程序语句进行降序排列，定位缺陷语句。