[发明专利]线性调频双光束激光外差测量磁致伸缩系数的装置及其方法有效
申请号: | 201410205977.7 | 申请日: | 2014-05-15 |
公开(公告)号: | CN103954922A | 公开(公告)日: | 2014-07-30 |
发明(设计)人: | 李彦超;韩雪冰;杨九如;冉玲苓;高扬;杨瑞海;杜军;丁群;王春晖;马立峰;于伟波 | 申请(专利权)人: | 黑龙江大学 |
主分类号: | G01R33/18 | 分类号: | G01R33/18 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 岳泉清 |
地址: | 150080 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 线性调频双光束激光外差测量磁致伸缩系数的装置及其方法,属于磁致伸缩系数测量领域。为了解决目前磁致伸缩系数的测量方法的测量精度不高的问题。它包括线性调频激光器、第一平面反射镜、薄玻璃板、第二平面反射镜、会聚透镜、光电探测器、信号处理系统、激励线圈、固定装置和电源电路;利用电源电路对设置在激励线圈中的被测样品加电流,使光电探测器开始接收光束信号,信号处理系统连续采集光电探测器输出的光电流,并对采集到的差频信号进行处理,根据频率与距离之间的关系获得薄玻璃板与第二平面反射镜之间的当前距离,再根据磁致伸缩系数的公式,获得待测样品的磁致伸缩系数。本发明用于测量磁致伸缩系数。 | ||
搜索关键词: | 线性 调频 光束 激光 外差 测量 伸缩 系数 装置 及其 方法 | ||
【主权项】:
线性调频双光束激光外差测量磁致伸缩系数的装置,其特征是在于,所述装置包括线性调频激光器(1)、第一平面反射镜(2)、薄玻璃板(3)、第二平面反射镜(4)、会聚透镜(5)、光电探测器(6)、信号处理系统、激励线圈(11)、固定装置和电源电路;被测样品设置在激励线圈(11)中,且所述被测样品通过固定装置与第二平面反射镜(4)的一个面固定连接,所述固定装置为非磁性材料固定装置,所述电源电路为励磁线圈提供能换向、调节电流大小的工作电源;线性调频激光器(1)发出的激光入射至第一平面反射镜(2),经第一平面反射镜(2)反射至薄玻璃板(3),并经薄玻璃板(3)分成一号反射光和折射光;所述折射光入射至第二平面反射镜(4)的一个面,经所述第二平面反射镜(4)的一个面反射后的光与一号反射的光均入射至会聚透镜(5),经会聚透镜(5)会聚至光电探测器(6)的光信号接收端,光电探测器(6)的光电流信号输出端与信号处理系统的光电流信号输入端连接;所述薄玻璃板(3)和第二平面反射镜(4)平行且等高。
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