[发明专利]一种用于探针台的MAP图增加墨点标识的方法有效
申请号: | 201410198997.6 | 申请日: | 2014-05-13 |
公开(公告)号: | CN105895545B | 公开(公告)日: | 2019-04-19 |
发明(设计)人: | 欧阳睿;肖金磊;王国兵;王生鹏;朱万才;邹欢 | 申请(专利权)人: | 紫光同芯微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;G06F17/50 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100083 北京市海淀区五*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种用于探针台的MAP图增加墨点标识的方法,涉及集成电路测试、制造领域。本发明方法包括如下步骤:1)得到晶圆空跑出来标准的UF200原始图像数据调用MAP图文件。2)打开MAP图文件,将头文件和每个芯片的坐标、标识符参数提取出来,输出到ASCII编码的《UF200.txt》模板。3)打开需要打点的MAP图文件统一格式,转换为标准的ASCII编码的《OTHER.txt》MAP文件。4)读取需要打点的ASCII编码的《OTHER.txt》文件将每个芯片的行列参数提取出来,结合其在《UF200.txt》模板的位置信息,将其还原,输出到“ink_MAP.txt”文件。5)打开“ink_MAP.txt”文件,将头文件表头和每个芯片的坐标、标识符参数提取出来生成“UF200_ink_MAP.dat”。本发明提高了设备能力和生产效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 探针 map 增加 墨点 标识 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于探针台的MAP图增加墨点标识的方法,其包括如下步骤:1)得到晶圆(WAFER)在UF系列探针台的测试机上空跑出来标准的UF原始图像数据调用MAP图文件;2)采用十六进制模式打开MAP图文件,按照UF探针台设定的数据格式和长度将头文件和每个芯片的坐标、标识符参数提取出来,根据坐标位置,输出到ASCII编码的《UF.txt》模板 ;3)采用文本方式打开需要打点的MAP图统一格式文件,转换为标准ASCII编码的《OTHER.txt》MAP文件;4)读取需要打点的ASCII编码的《OTHER.txt》文件将每个芯片的行列参数提取出来,结合其在《UF.txt》模板的位置信息,将其还原到UF探针台坐标系上位置,输出到“ink_MAP.txt”文件;5)打开“ink_MAP.txt”文件,按照UF探针台设定的数据格式和长度将头文件表头和每个芯片的坐标、标识符参数提取出来生成“UF_ink_ MAP.dat”。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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