[发明专利]一种用于铜离子的光电化学分析检测方法

摘要

本发明公开了一种用于铜离子的光电化学分析检测方法，包括如下步骤：（1）用清洗溶剂清洗ITO导电玻璃待用；（2）用待测含铜离子的溶液和不同阶梯浓度的硝酸铜溶液分别配制含有0.05～0.2摩尔/升硝酸钾的混合溶液；（3）用ITO导电玻璃作为工作电极、铂丝作为对电极、银/氯化银作为参比电极，分别置于步骤（2）的混合溶液中，分别在-0.1～-0.3伏条件下沉积30～120分钟，生成纳米氧化亚铜半导体光阴极，并定量产生对应的光电流；（4）绘制铜离子-光电流对应关系曲线图，获得铜离子溶度。本发明方法为方便、简便、快速、超灵敏、高特异性及环境友好的铜离子光电化学分析检测方法。

主权项

一种用于铜离子的光电化学分析检测方法，其特征在于包括如下步骤：（1）用清洗溶剂清洗ITO导电玻璃，然后用水冲洗干净后晾干待用；（2）用待测含铜离子的溶液和不同阶梯浓度的硝酸铜溶液分别配制含有0.05～0.2摩尔/升硝酸钾的混合溶液；（3）用步骤（1）得到的ITO导电玻璃作为工作电极、铂丝作为对电极、银/氯化银作为参比电极，分别置于步骤（2）的混合溶液中，分别在‑0.1～‑0.3伏条件下沉积30～120分钟，铜离子在ITO导电玻璃表面定量生成纳米氧化亚铜半导体光阴极，并定量产生对应的光电流；（4）绘制铜离子‑光电流对应关系曲线图，获得待测含铜离子溶液中的铜离子溶度。