[发明专利]原子层沉积装置和原子层沉积方法有效

专利信息
申请号: 201410183662.7 申请日: 2014-04-30
公开(公告)号: CN104141117B 公开(公告)日: 2018-01-19
发明(设计)人: 长井博之;桑山哲朗 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: C23C16/455 分类号: C23C16/455
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 代理人: 余刚,吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及原子层沉积装置和原子层沉积方法。原子层沉积装置包括可密封的沉积室;保持部,被配置为在沉积室中保持包括沉积表面的基板;供应机构,包括连接至供应气体的气体供应源的导入部,并且被配置为将导入导入部的气体从与沉积表面相对的位置处供应至沉积室;以及排出机构,包括连接至能够排出气体的排出机构的排出部,并且被配置为从与沉积表面相对的位置处给沉积室排气。
搜索关键词: 原子 沉积 装置 方法
【主权项】:
一种原子层沉积装置,包括:能够密封的沉积室;保持部,被配置为在所述沉积室中保持包括沉积表面的基板;供应机构,包括连接至供应气体的气体供应源的导入部,并且被配置为将引入到所述导入部的气体从与所述沉积表面相对的位置处供应至所述沉积室;排出机构,包括连接至能够排出气体的排出机构的排出部,并且被配置为从与所述沉积表面相对的位置处给所述沉积室排气;以及旁路通道,连接所述排出机构和所述导入部。
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