[发明专利]一种针对抗辐照芯片的软错误注入和验证方法

摘要

本发明涉及一种针对抗辐照芯片的软错误注入和验证方法，属于抗辐照芯片的验证技术领域，特别适用于宇航等有抗辐照要求的芯片的软错误注入和验证。该方法通过将错误注入模型与从网表中提取的寄存器列表来生成UCLI命令集，并将这些命令集与常规的验证平台并行运行，这种方法一方面不影响正常的验证流程从而节省了整个验证流程的时间使得传统验证平台开发与错误注入模型建立可以并行进行，另一方面，通过错误注入模型的参数设定灵活配置错误注入的方式从而减少了传统方法中分析代码单独设计测试用例的时间开销。本发明采用将传统的验证平台与UCLI命令集并行执行的方式，不需要对验证平台进行二次开发，有利于芯片已有验证平台的复用，减少时间开销。

主权项

一种针对抗辐照芯片的软错误注入和验证方法，其特征在于步骤为：1)基于SMIC 0.13um工艺库文件将四串口芯片设计的RTL代码综合成门级网表，用于后端布局布线使用；2)基于工艺库所对应的数据手册得到SMIC 0.13um工艺库中的各种触发器的类型和对应的端口定义，其中SMIC 0.13um工艺库的触发器类型和端口定义如下：从步骤1)得到的门级网表中提取这些类型的触发器汇总成为触发器列表；3)配置注入错误模型：以文本的方式指定故障注入的触发器的时间顺序和注入的故障打翻每个触发器持续的时间；其中，故障注入的触发器的时间顺序按照一个自定义的时间点依次注入或随机选择注入故障的时间点；4)根据步骤3)得到的注入错误模型和步骤2)得到的触发器列表生成相应的UCLI命令集，即根据步骤3)得到的注入错误模型来设定步骤2)得到的触发器列表中每个触发器打翻的次序和每次打翻所持续的时间，根据不同的触发器的端口定义将其中的数据输出端打翻，根据上述两方面的配置形成UCLI命令集，供验证时直接执行；5)根据芯片功能基于步骤1)得到的四串口芯片的门级网表构建仿真验证平台，即基于步骤1)得到的四串口芯片的门级网表，根据芯片的具体功能，构建仿真验证平台，该平台支持UCLI命令集的运行，支持对仿真结果正确与否的判断，并能覆盖芯片的功能需求；采用Synopsys的验证软件VCS Compiler构建该仿真验证平台，该平台操作过程如下；首先，定义测试的场景，根据四串口支持的各种类型的数据收发需求设定测试场景和正确的输出结果；其次，通过调用验证用的CPU模型和串口的VIP模型来实现测试场景，然后，输出相应的给被测芯片的测试激励；再次，将测试激励输出给被测的四路串口芯片，将芯片的输出结果与测试场景中定义的正确结果进行对比，将对比的结果输出给打分板；最后，汇总打分板信息，分析验证的功能覆盖率；6)将步骤5)得到的仿真验证平台的执行与步骤4)得到的UCLI命令集运行并行进行，即在步骤5)设计的验证平台运行测试用例时加入步骤4)中产生的UCLI命令集，两者并行执行，并行执行的方式为在Makefile中加入调用UCLI命令集的语句；7)根据步骤6)得到的运行结果分析芯片在错误注入下的运行情况，由于步骤5)中的验证平台支持对结果正确与否的判断，通过分析这些判断结果得到在单粒子故障注入时的实际运行结果。