[发明专利]数控装置有效

专利信息
申请号: 201410147553.X 申请日: 2014-04-14
公开(公告)号: CN104102173B 公开(公告)日: 2018-02-27
发明(设计)人: 国光克则;杉江正行 申请(专利权)人: 大隈株式会社
主分类号: G05B19/401 分类号: G05B19/401
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 代理人: 王程,黎艳
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 数控装置,其配备有三维模型存储器,其存储有工件和夹具中至少一个的三维模型;三维测量装置,其整体地测量固定到机床上的所述工件和所述夹具的形状;以及形状处理器,其基于三维测量单元测得的测量数据产生整体测量模型,其中,所述工件和所述夹具是整体识别的,并基于整体生成的测量模型和所述工件或夹具的三维模型,对于所述工件和所述夹具中的至少一个,进一步单独测量模型,其中所述工件或所述夹具是单独测量的。
搜索关键词: 数控 装置
【主权项】:
数控装置,其用于根据数控信息控制工具与工件之间的相对移动,所述工件具有固定至机床的夹具,该数控装置包括:三维模型存储器,其存储有所述工件的三维模型,所述工件的所述三维模型设置为比实际工件更大;三维测量装置,其整体地测量固定到所述机床上的所述工件和所述夹具的形状;测量数据存储器,其存储有所述三维测量装置测得的测量数据,在所述测量数据中所述工件和所述夹具是整体识别的;以及形状处理器,其基于存储在所述测量数据存储器中的所述工件和所述夹具的测量数据,生成整体测量的模型,在该模型中所述工件和所述夹具是整体识别的,并且,对于所述工件和所述夹具中的每一个,所述形状处理器基于生成的整体测量的模型和所述工件的三维模型,进一步生成单独测量的模型,在该单独测量的模型中所述工件或所述夹具是单独辨识的;其中,通过参考由所述形状处理器生成的单独测量的模型,按照以下方式控制所述工具与具有所述夹具的所述工件之间的相对移动:在响应快速馈送指令时,避免所述工件、所述夹具和所述工具的之间的干涉,并且在切割过程中,避免所述夹具和所述工具之间的干涉,并且忽略所述工件和所述工具之间的干涉。
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