[发明专利]一种高精度非接触工件内径测量装置和方法

摘要

一种高精度非接触工件内径测量装置和方法，所述装置包括固定支架、第一测量杆、第一驱动机构、第一激光测距传感器和反射镜，固定支架设置有滑动轨道，第一测量杆的上部连接有滑块，滑块与所述滑动轨道连接，第一驱动机构驱动滑块沿滑动轨道移动，使得第一测量杆的底部能够进入被测工件的内膛；第一测量杆设置第一激光测距传感器，第一测量杆的底部设置反射镜，第一激光测距传感器能够发出测量激光，反射镜能够将测量激光反射到被测工件内壁，并将经过漫反射的测量激光反射到第一激光测距传感器，第一激光测距传感器根据接受到的光线信息得到被测工件内壁的测量结果。本发明为非接触检测，避免了因接触而引起的物体变形、干扰、工作中断等不利影响。

主权项

一种高精度非接触工件内径测量装置，包括固定支架（1）、第一测量杆（2）、第二测量杆（14）、第一驱动机构（3）、第二驱动机构（8）、第一激光测距传感器（4）、第二激光测距传感器（13）、第三激光测距传感器（15）、旋转架（7）、和反射镜（5），其特征在于所述的固定支架（1）设置有滑动轨道，第一测量杆（2）置于旋转架（7）中，旋转架（7）的外壁固定连接有滑块（6），滑块（6）与固定支架（1）所设滑动轨道连接，所述第一驱动机构（3）驱动滑块（6）沿滑动轨道上下移动，使得所述第一测量杆（2）的底部能够通过被测工件（16）的口部进出所述被测工件的内膛；所述第二驱动机构（8）连接在第一测量杆（2）的顶部，第二驱动机构（8）驱动第一测量杆（2）在旋转架（7）中旋转；所述第一测量杆（2）固定设置第一激光测距传感器（4），并且第一激光测距传感器（4）位于滑块（6）的下方，第一测量杆（2）的底部固定设置所述反射镜（5），第一激光测距传感器（4）能够发出测量激光，反射镜（5）能够将测量激光反射到被测工件（16）内壁，再将经过漫反射的测量激光反射到第一激光测距传感器，第一激光测距传感器根据接受到的光线信息得到被测工件内壁的测量结果。