[发明专利]金属基底上制备高深宽比金属微光栅的方法有效

专利信息
申请号: 201410134217.1 申请日: 2014-04-03
公开(公告)号: CN103913789A 公开(公告)日: 2014-07-09
发明(设计)人: 杜立群;赵明;鲍其雷;谭志成;王翱岸 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: G02B5/18 分类号: G02B5/18;C25D1/00
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 赵连明
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 金属基底上制备高深宽比金属微光栅的方法,属于微制造技术领域。采用UV-LIGA技术在高纯镍板基底J上,经两次匀胶、分层曝光以及一次显影等光刻工艺过程得到SU-8胶胶膜,再经微电铸镍N、微电铸后处理来实现金属微光栅的制作;通过线宽补偿的方法解决溶胀引起的线宽变小问题;在去胶工序中,采用了“超声-浸泡-超声-浸泡”循环往复的方法去胶;在退火工序中使用真空退火去除残余应力,提高了基底与金属光栅之间的结合力。本发明的效果和益处是:采用此方法在金属基底J上制备金属微光栅具有深宽比、尺寸精度和机械强度高的特点,制备工艺简单,成本较低。
搜索关键词: 金属 基底 制备 高深 微光 方法
【主权项】:
在金属基底上制备高深宽比金属微光栅的方法,包括在高纯镍板基底上,经两次匀胶、分层曝光以及一次显影等光刻工艺过程得到SU‑8胶胶膜,再微电铸镍、微电铸后处理来实现金属微光栅的制作;通过线宽补偿的方法解决溶胀引起的线宽变小问题;在去胶工序中,采用了“超声‑浸泡‑超声‑浸泡”循环往复的方法去胶;在退火工序中使用真空退火去除残余应力;具体步骤如下:(1)基板预处理:首先,镍基板经过研磨、抛光使其表面粗糙度小于0.04μm,然后用丙酮棉球将基板表面擦拭干净,接着分别在丙酮和乙醇中施以超声清洗,再用纯水冲洗干净后吹干,最后在烘箱中烘焙,去除水汽后冷却至室温;(2)SU‑8胶胶膜的制备:使用台式匀胶机在基底上分两次旋涂SU‑8光刻胶,匀胶机设置不同的转速得到不同厚度的胶膜;分次旋涂的SU‑8光刻胶分别经过静置、前烘、曝光、后烘后进行一次显影,最终得到所需的SU‑8胶胶膜;得到的胶膜直接作为微电铸的型模;(3)微电铸:采用在金属基底上直接电铸生长的无背板生长工艺;电铸过程中施以阴极移动和循环过滤;电铸液配方为:氨基磺酸镍365~375g/L、氯化镍6~10g/L、硼酸55~60g/L;微电铸镍工艺条件为:PH值3.9~4.1、温度48℃~52℃、电流密度0.5~1A/dm2;(4)人工研磨抛光:采用人工研磨的方法对电铸后的电铸层表面进行研磨抛光,以获得平整的电铸层表面;(5)去除SU‑8胶:首先将具有光栅结构的基板浸泡在80~90℃的SU‑8去胶液中,浸泡5~10h后施加超声1~2h,之后撤除超声继续用去胶液浸泡,如此“浸泡‑超声‑浸泡‑超声”循环往复去胶,最终得到干净的光栅结构;(6)高温真空退火:退火绝对真空度约为10‑3Pa,温度为350~400℃,退火时间1~1.5h,然后随炉冷却。
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