[发明专利]超导量子干涉器磁传感器的性能测试装置及方法有效
| 申请号： | 201410125669.3 | 申请日： | 2014-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN104950275B | 公开（公告）日： | 2017-07-21 |
| 发明（设计）人： | 王永良;徐小峰;孔祥燕;谢晓明 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所31219 | 代理人： | 高磊 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种超导量子干涉器磁传感器的性能测试装置及方法，其中，超导量子干涉器磁传感器包括SQUID和与SQUID相连并向该SQUID反馈磁通的磁通锁定环路。该性能测试装置包括外部磁通加载单元，用于向超导量子干涉器磁传感器提供包含频率变化的外部磁通和用于抵消所述超导量子干涉器件所处环境磁通的抵消磁通，其中，外部磁通的幅度小于预设值；与磁通锁定环路相连的磁通偏差获取单元，用于获取外部磁通和反馈磁通之间的磁通偏差；与磁通偏差获取单元和外部磁通加载单元相连的测试单元，用于根据所获取的磁通偏差及所对应的频率来计算超导量子干涉器磁传感器不失锁时最大可测磁通‑频率变化的特性。本发明能够持续的测试SQUID磁传感器的性能。 | ||
| 搜索关键词： | 超导 量子 干涉 传感器 性能 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种超导量子干涉器磁传感器的性能测试装置，其中，所述超导量子干涉器磁传感器包括：超导量子干涉器件和与所述超导量子干涉器件相连并向所述超导量子干涉器件反馈磁通的磁通锁定环路，所述磁通锁定环路预先锁定超导量子干涉器磁传感器的工作点，其特征在于，所述性能测试装置包括：外部磁通加载单元，用于向所述超导量子干涉器磁传感器提供包含频率变化的外部磁通和用于抵消所述超导量子干涉器件所处环境磁通的抵消磁通，其中，所述外部磁通的幅度小于预设值；与所述磁通锁定环路相连的磁通偏差获取单元，用于获取所述外部磁通和反馈磁通之间的磁通偏差；与所述磁通偏差获取单元和外部磁通加载单元相连的测试单元，用于根据所获取的所述磁通偏差及所对应的频率来计算所述超导量子干涉器磁传感器不失锁时最大可测磁通‑频率变化的特性。
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