[发明专利]目标探测器有效
申请号: | 201410124493.X | 申请日: | 2014-01-30 |
公开(公告)号: | CN103969637B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
发明(设计)人: | 仲村忠司;今井重明 | 申请(专利权)人: | 株式会社理光 |
主分类号: | G01S7/481 | 分类号: | G01S7/481 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人: | 张祥 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种目标探测器。该目标探测器包括光源;光学系统,将从光源发出的光束转换成预定状态;偏转器,偏转和扫描穿过光学系统的光束,并且将光束照射到目标上;光电探测器,探测反射光或者散射光。光源的发光区的第一尺寸与光源发光区的第二尺寸是不同的,所述的第一尺寸是发光区在第一方向的第一宽度,所述第二尺寸是发光区在第二方向的第二宽度。同所述第一尺寸和第二尺寸中较小者对应的第一方向和第二方向中的一个方向与角分辩率较高的方向一致。 | ||
搜索关键词: | 目标 探测器 | ||
【主权项】:
目标探测器,其包括:光源;光学系统,被配置用于将从所述光源发出的光束转换成预定状态;偏转器,被配置用于对穿过所述光学系统的光束进行偏转和扫描,并被配置用于将所述光束照射到目标上;以及光电探测器,被配置用于探测照射到目标上的光束从目标上反射或散射的光;其中,所述光源的发光区的第一尺寸与所述发光区的第二尺寸是不同的,所述第一尺寸是发光区在第一方向的第一宽度,第二尺寸是发光区在第二方向的第二宽度,所述光源的发光区是光源发光的区域;并且同所述第一尺寸和第二尺寸中较小者对应的第一方向和第二方向中的一个方向与角分辨率较高的方向一致,所述角分辨率是最小可探测角度范围。
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