[发明专利]一种三框架结构的单质量块三轴MEMS加速度计有效

专利信息
申请号: 201410124054.9 申请日: 2014-03-28
公开(公告)号: CN103941041A 公开(公告)日: 2014-07-23
发明(设计)人: 邓佩刚;杨政 申请(专利权)人: 武汉瑞芯科微电子技术有限公司
主分类号: G01P15/12 分类号: G01P15/12
代理公司: 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 代理人: 黄冠华
地址: 430079 湖北省武汉市东湖开发区高新大道*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种三框架结构的单质量块三轴MEMS加速度计,包括三个框架结构:悬浮内框架、悬浮外框架与固定框架,所述固定框架以键合的方式与底座形成密封连接。所述三个框架结构呈对称布置,形状为矩形或环形。还包括设置于X、Y、Z方向上的弹性感应梁。所述X方向敏感梁上的压敏电阻以串联方式布置在电桥的一个桥臂,其上的压敏电阻变化能减少与Y轴、及Z轴之间的耦合。Y方向敏感梁上的压敏电阻变化也能减少其与X轴、及Z轴间的耦合。Z方向敏感梁上的压敏电阻变化也能减少其与X轴、Y轴间的耦合。本发明设计巧妙,产品良率高,解决了现有技术中中单质量块压敏电阻式三轴MEMS加速度传感器轴间耦合过大、灵敏度低、测量精度低的问题。
搜索关键词: 一种 框架结构 单质 量块 mems 加速度计
【主权项】:
一种三框架结构的单质量块三轴MEMS加速度计,其特征在于,包括三个框架结构:悬浮内框架、悬浮外框架与固定框架,所述固定框架以键合的方式与底座形成密封连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉瑞芯科微电子技术有限公司,未经武汉瑞芯科微电子技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410124054.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top