[发明专利]一种集成电路管脚的测试方法无效
| 申请号： | 201410103294.0 | 申请日： | 2014-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN103869209A | 公开（公告）日： | 2014-06-18 |
| 发明（设计）人： | 徐正元 | 申请（专利权）人： | 成都市中州半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 611731 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路管脚的测试方法，包括测试模块、I/O（数模转换）接口模块和I/O控制模块，所述测试模块预置在待测芯片内部并与所述I/O接口模块和所述I/O控制模块相匹配，所述测试模块进行IOMODE1测试模式和IOMODE2测试模式两种模式的测试，所述I/O接口模块接受测试指令控制所述测试模块在所述IOMODE1测试模式和所述IOMODE2测试模式之间的转换，所述I/O控制模块负责控制待测芯片I/O的输入输出方向并负责将所述待测芯片的输入管脚的电平输送至对应的输出管脚。使用该测试模块进行测试时，只需要在两种测试模式下分别进行两次测试即可完成整个测试，大大缩短了测试时间和测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 管脚 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种集成电路管脚的测试方法，其特征在于，包括测试模块、I/O接口模块和I/O控制模块，所述测试模块预置在待测芯片内部并与所述I/O接口模块和所述I/O控制模块相匹配，所述测试模块进行IOMODE1测试模式和IOMODE2测试模式两种模式的测试，所述I/O接口模块接受测试指令控制所述测试模块在所述IOMODE1测试模式和所述IOMODE2测试模式之间的转换，所述I/O控制模块负责控制待测芯片I/O的输入输出方向并负责将所述待测芯片的输入管脚的电平输送至对应的输出管脚。
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